图像缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110525720.X

申请日：

2021-05-13

公开(公告)号：

CN113240642A

公开(公告)日：

2021-08-10

发明(设计)人：

张发恩秦树鑫

申请人：

申请人地址：

100000 北京市海淀区海淀大街3号B座15层1511室

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G06K946 G06K962 G06N304 G06N308

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463

代理人：

钟扬飞

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210513
2021-08-10	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

张立波 .

中国专利 :CN118154498A ,2024-06-07

[2]

缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

吴海腾 ;

陆银霞 ;

陆晓敏 ;

玉正英 .

中国专利 :CN113610819A ,2021-11-05

[3]

缺陷检测方法及装置、存储介质及电子设备 [P].

王耀平 ;

张美娟 ;

贺王强 ;

柴栋 ;

王洪 .

中国专利 :CN115699082A ,2023-02-03

[4]

缺陷检测方法及装置、存储介质及电子设备 [P].

王耀平 ;

张美娟 ;

贺王强 ;

柴栋 ;

王洪 .

中国专利 :CN115699082B ,2025-10-14

[5]

缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

高旭 .

中国专利 :CN116168009B ,2025-10-03

[6]

图像缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

刘小磊 ;

陈丽莉 ;

王云奇 ;

楚明磊 .

中国专利 :CN109872304B ,2019-06-11

[7]

图像缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

叶显一 ;

刘阳兴 .

中国专利 :CN118071669A ,2024-05-24

[8]

图像缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张强 ;

谢浩 ;

栗志超 ;

徐佳 ;

郭相军 ;

朱暄 .

中国专利 :CN111028213A ,2020-04-17

[9]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

詹佳伟 .

中国专利 :CN117830210A ,2024-04-05

[10]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862A ,2021-09-03

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