一种稀疏两相流中颗粒局部结构的测量方法

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专利类型
发明
申请号
CN202010132167.9
申请日
2020-02-29
公开(公告)号
CN111307669B
公开(公告)日
2020-06-19
发明(设计)人
孔平 王蓬 李然
申请人
申请人地址
201318 上海市浦东新区周祝公路279号
IPC主分类号
G01N1500
IPC分类号
G01N2184 G06V1044 G06V1056 G06K962 G06T700 G06T762
代理机构
上海科盛知识产权代理有限公司 31225
代理人
叶敏华
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
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[9]
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[10]
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