测试装置及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710986087.8

申请日：

2017-10-20

公开(公告)号：

CN109696284A

公开(公告)日：

2019-04-30

发明(设计)人：

王伟甘钦争雷江波孙超吴辉

申请人：

申请人地址：

201206 上海市浦东新区榕桥路555号

IPC主分类号：

G01M332

IPC分类号：

G01N312

代理机构：

上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237

代理人：

屈蘅

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-04-30	公开	公开
2019-05-28	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 3/32 申请日:20171020
2022-07-08	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01M 3/32 申请公布日:20190430

共 50 条

[1]

测试装置及测试装置的测试方法 [P].

陈文 ;

袁佳佳 .

中国专利 :CN121068168A ,2025-12-05

[2]

测试装置及测试方法 [P].

王仲培 .

中国专利 :CN101661060A ,2010-03-03

[3]

测试装置及测试方法 [P].

大岛广美 .

中国专利 :CN102854411A ,2013-01-02

[4]

测试装置及测试方法 [P].

赵金明 ;

孟庆奎 .

中国专利 :CN101685415A ,2010-03-31

[5]

测试方法及测试装置 [P].

戎浩 .

中国专利 :CN119602886A ,2025-03-11

[6]

测试装置及测试方法 [P].

梁文钦 ;

萧博文 ;

谢承财 ;

陈承韶 .

中国专利 :CN114649231A ,2022-06-21

[7]

测试装置及测试方法 [P].

冯文能 .

中国专利 :CN101598753A ,2009-12-09

[8]

测试装置及测试方法 [P].

邓凌星 ;

张宇 ;

谢镇和 .

中国专利 :CN120142702A ,2025-06-13

[9]

测试装置及测试方法 [P].

石川慎一 ;

杉村一 ;

基石优 ;

中山浩康 ;

津藤胜 .

中国专利 :CN102246471A ,2011-11-16

[10]

测试装置及测试方法 [P].

寒竹秀介 .

中国专利 :CN102124357A ,2011-07-13

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