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大区域脉冲电磁场辐射时空分布参数测量系统及测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201810426764.5
申请日
:
2018-05-07
公开(公告)号
:
CN108693410B
公开(公告)日
:
2018-10-23
发明(设计)人
:
谢彦召
李启
申请人
:
申请人地址
:
710049 陕西省西安市咸宁西路28号
IPC主分类号
:
G01R2908
IPC分类号
:
代理机构
:
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350
代理人
:
汤东凤
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-07-17
授权
授权
2018-11-16
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 29/08 申请日:20180507
2018-10-23
公开
公开
共 50 条
[1]
纳秒时间分辨的脉冲电磁场测量装置及方法
[P].
谢彦召
论文数:
0
引用数:
0
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0
谢彦召
;
李启
论文数:
0
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0
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0
李启
.
中国专利
:CN108562800A
,2018-09-21
[2]
电磁场测量探头及电磁场测量系统
[P].
田杰
论文数:
0
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0
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0
田杰
;
余鹏
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0
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余鹏
;
吴杨森
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吴杨森
;
陆德坚
论文数:
0
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0
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陆德坚
;
刘雪松
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0
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0
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刘雪松
;
李健晖
论文数:
0
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0
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李健晖
.
中国专利
:CN209764950U
,2019-12-10
[3]
电磁场测量探头、电磁场测量系统及控制方法
[P].
田杰
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0
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0
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田杰
;
余鹏
论文数:
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0
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余鹏
;
吴杨森
论文数:
0
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吴杨森
;
陆德坚
论文数:
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陆德坚
;
刘雪松
论文数:
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刘雪松
;
李健晖
论文数:
0
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李健晖
.
中国专利
:CN109856462A
,2019-06-07
[4]
电磁场测量方法、电磁场测量装置以及相位成像装置
[P].
久武信太郎
论文数:
0
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久武信太郎
;
永妻忠夫
论文数:
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永妻忠夫
.
中国专利
:CN107923933A
,2018-04-17
[5]
一种电磁场空间分布测量方法及系统
[P].
徐华
论文数:
0
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0
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徐华
.
中国专利
:CN114814381A
,2022-07-29
[6]
电磁场测量系统
[P].
孙巍巍
论文数:
0
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0
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孙巍巍
.
中国专利
:CN101923121A
,2010-12-22
[7]
电磁场测量系统
[P].
L·阿布里布约
论文数:
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0
L·阿布里布约
.
中国专利
:CN108700622B
,2018-10-23
[8]
电磁场测量系统
[P].
孙巍巍
论文数:
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0
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孙巍巍
.
中国专利
:CN201527453U
,2010-07-14
[9]
用于测量电磁场的测量装置和测量方法
[P].
亚当·坦基伦
论文数:
0
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0
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机构:
罗德施瓦兹两合股份有限公司
罗德施瓦兹两合股份有限公司
亚当·坦基伦
;
科比特·罗威尔
论文数:
0
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0
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机构:
罗德施瓦兹两合股份有限公司
罗德施瓦兹两合股份有限公司
科比特·罗威尔
.
德国专利
:CN110161321B
,2024-07-16
[10]
电磁场复合探头、电磁测量方法和电磁测量装置
[P].
王磊
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
王磊
;
骆成阳
论文数:
0
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0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
骆成阳
;
黄权
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0
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0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
黄权
;
李键坷
论文数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
李键坷
;
邵伟恒
论文数:
0
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0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
邵伟恒
;
路国光
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
路国光
;
恩云飞
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
恩云飞
.
中国专利
:CN118604468A
,2024-09-06
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