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测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202011619077.9
申请日：
2020-12-30
公开(公告)号：
CN112667510A
公开(公告)日：
2021-04-16
发明(设计)人：
陆华 郑鹰飞 曹垒 丁勇 安鹏锦 谷若兰 沈文杰
申请人：
申请人地址：
200135 上海市浦东新区自由贸易试验区陆家嘴环路1333号18层
IPC主分类号：
G06F1136
IPC分类号：
G06F1633 G06F16332
代理机构：
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人：
熊永强
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-01-28 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20201230
2021-04-16 公开 公开
共 50 条
[1]
性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何品德 .
中国专利 :CN112612686A ,2021-04-06
[2]
测试评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
石雅楠 ;
张文波 .
中国专利 :CN112163633A ,2021-01-01
[3]
测试评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
石雅楠 ;
张文波 .
中国专利 :CN112163633B ,2024-10-15
[4]
存储池测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
李夕玉 ;
马超群 .
中国专利 :CN120743714A ,2025-10-03
[5]
存储池测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
李夕玉 ;
马超群 .
中国专利 :CN120743714B ,2025-11-07
[6]
性能测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
罗金富 .
中国专利 :CN118093278A ,2024-05-28
[7]
电子设备的测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
冯晓萌 ;
杜蕴璇 ;
翟忆蒙 ;
苏佳会 ;
郝丹 .
中国专利 :CN112612664B ,2024-04-02
[8]
电子设备的测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
冯晓萌 ;
杜蕴璇 ;
翟忆蒙 ;
苏佳会 ;
郝丹 .
中国专利 :CN112612664A ,2021-04-06
[9]
模拟系统测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
史建军 .
中国专利 :CN115617661A ,2023-01-17
[10]
话术测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陆华 ;
郑鹰飞 ;
谷若兰 .
中国专利 :CN112612879A ,2021-04-06
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