一种高压低温条件下的多层薄膜电磁特性的测量方法

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专利类型
发明
申请号
CN201711051302.1
申请日
2017-10-20
公开(公告)号
CN107894455A
公开(公告)日
2018-04-10
发明(设计)人
郭强
申请人
申请人地址
321017 浙江省金华市婺州街1188号
IPC主分类号
G01N2772
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
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共 50 条
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[10]
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