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一种高压低温条件下的多层薄膜电磁特性的测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201711051302.1
申请日
:
2017-10-20
公开(公告)号
:
CN107894455A
公开(公告)日
:
2018-04-10
发明(设计)人
:
郭强
申请人
:
申请人地址
:
321017 浙江省金华市婺州街1188号
IPC主分类号
:
G01N2772
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-05-04
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 27/72 申请日:20171020
2018-04-10
公开
公开
共 50 条
[1]
一种低温条件下的拉曼光谱测量方法
[P].
索奕双
论文数:
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索奕双
;
郭强
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郭强
;
张向平
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张向平
.
中国专利
:CN110031444A
,2019-07-19
[2]
一种测量高温高压条件下材料特性的方法
[P].
郭强
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郭强
.
中国专利
:CN107884260A
,2018-04-06
[3]
一种低温高压条件下测量磁光介质薄膜物性的方法
[P].
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机构:
斯德斌
;
论文数:
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机构:
朱登胜
;
徐建丽
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机构:
金华职业技术学院
金华职业技术学院
徐建丽
.
中国专利
:CN107884728B
,2024-01-30
[4]
一种低温高压条件下测量磁光介质薄膜物性的方法
[P].
朱登胜
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朱登胜
;
徐建丽
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徐建丽
.
中国专利
:CN107884728A
,2018-04-06
[5]
一种高压低温条件下的密封连接装置及冷冻治疗系统
[P].
吕冬
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吕冬
;
徐晶晶
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徐晶晶
;
车浩
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车浩
;
郭晓辉
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郭晓辉
;
陈伟
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陈伟
.
中国专利
:CN215129978U
,2021-12-14
[6]
高压条件下物质磁电阻率的测量方法
[P].
高春晓
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高春晓
;
李明
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李明
;
张东梅
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张东梅
;
杨洁
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杨洁
;
韩永昊
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韩永昊
;
彭刚
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彭刚
;
刘洪武
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刘洪武
;
邹广田
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邹广田
.
中国专利
:CN101900762A
,2010-12-01
[7]
高压条件下氧气溶解度的测量装置及其测量方法
[P].
李然
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李然
;
王乐乐
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王乐乐
;
李嘉
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李嘉
;
梁斌
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梁斌
;
李克锋
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李克锋
;
邓云
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邓云
;
蒋亮
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蒋亮
;
林芝
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林芝
.
中国专利
:CN102937589A
,2013-02-20
[8]
一种旋转条件下小孔流量系数的测量方法
[P].
张镜洋
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张镜洋
;
田兴江
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田兴江
;
常海萍
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常海萍
;
聂俊领
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聂俊领
;
何院
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何院
.
中国专利
:CN104359679A
,2015-02-18
[9]
一种用于低温条件下的原位高压加载装置
[P].
袁宝
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机构:
散裂中子源科学中心
散裂中子源科学中心
袁宝
;
童欣
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散裂中子源科学中心
散裂中子源科学中心
童欣
;
康乐
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散裂中子源科学中心
散裂中子源科学中心
康乐
;
白波
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散裂中子源科学中心
散裂中子源科学中心
白波
;
胡海韬
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散裂中子源科学中心
散裂中子源科学中心
胡海韬
;
孙远
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散裂中子源科学中心
散裂中子源科学中心
孙远
;
林权
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散裂中子源科学中心
散裂中子源科学中心
林权
;
高德祥
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散裂中子源科学中心
散裂中子源科学中心
高德祥
;
申旭东
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散裂中子源科学中心
散裂中子源科学中心
申旭东
;
张俊帆
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机构:
散裂中子源科学中心
散裂中子源科学中心
张俊帆
.
中国专利
:CN120177234A
,2025-06-20
[10]
一种常压低温条件下形貌可控微纳米ZnO的制备方法
[P].
邢彦军
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邢彦军
;
胡翠翠
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胡翠翠
.
中国专利
:CN108275713A
,2018-07-13
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