高性能RFID综合测试仪器

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201721394238.2
申请日
2017-10-26
公开(公告)号
CN207440198U
公开(公告)日
2018-06-01
发明(设计)人
孙小莉 金伟 邵晖
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张东路1387号(张江集电港二期)10幢02室2楼
IPC主分类号
G01R3100
IPC分类号
代理机构
上海正旦专利代理有限公司 31200
代理人
张磊
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
近距离无线通讯综合测试仪器 [P]. 
何婷婷 ;
陈柯 ;
邵晖 .
中国专利 :CN202261306U ,2012-05-30
[2]
射频识别综合测试仪器 [P]. 
陈柯 ;
邵晖 ;
何婷婷 .
中国专利 :CN201259674Y ,2009-06-17
[3]
综合测试仪器 [P]. 
吴帅 ;
徐志 .
中国专利 :CN304218169S ,2017-07-28
[4]
电机综合测试仪器 [P]. 
文月星 .
中国专利 :CN305714396S ,2020-04-17
[5]
电机综合测试仪器 [P]. 
孙秋霞 ;
韩庆江 ;
张霄宁 .
中国专利 :CN304799557S ,2018-09-04
[6]
电器电性能综合测试仪 [P]. 
赵育群 .
中国专利 :CN2206967Y ,1995-09-06
[7]
高压开关性能综合测试仪 [P]. 
李金龙 ;
赵中远 ;
杨彩梅 ;
刘伟 ;
王教波 ;
张俊鹏 .
中国专利 :CN209247983U ,2019-08-13
[8]
用于电机综合测试仪器的机箱 [P]. 
韩庆江 .
中国专利 :CN208091471U ,2018-11-13
[9]
综合测试仪 [P]. 
叶志锋 ;
杨核 .
中国专利 :CN202583337U ,2012-12-05
[10]
DCS性能综合测试仪 [P]. 
周丹 .
中国专利 :CN200953088Y ,2007-09-26