一种面向光学相干断层图像斑块形态检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201811471299.3
申请日
2018-12-04
公开(公告)号
CN109697459A
公开(公告)日
2019-04-30
发明(设计)人
聂仁灿 郭晓鹏 李华光 周冬明 贺康健 侯瑞超 阮小利 刘栋
申请人
申请人地址
650031 云南省昆明市五华区翠湖北路2号
IPC主分类号
G06K962
IPC分类号
G06T711
代理机构
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350
代理人
汤东凤
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
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[8]
一种光学相干断层成像系统及光学相干断层成像方法 [P]. 
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秦嘉 ;
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[9]
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[10]
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