应用程序的测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202111590219.8

申请日：

2021-12-23

公开(公告)号：

CN114265777A

公开(公告)日：

2022-04-01

发明(设计)人：

田聪汤玉民

申请人：

申请人地址：

100085 北京市海淀区上地十街10号百度大厦2层

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

G06F169535

代理机构：

北京市铸成律师事务所 11313

代理人：

包莉莉;王丹丹

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-10	授权	授权
2022-04-19	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20211223
2022-04-01	公开	公开

共 50 条

[1]

应用程序测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

刘伟杰 .

中国专利 :CN109614311A ,2019-04-12

[2]

应用程序的测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张晓霞 ;

黄晴 ;

冯月利 ;

陈思宇 .

中国专利 :CN114281671A ,2022-04-05

[3]

应用程序的测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张镇鸿 .

中国专利 :CN118057329A ,2024-05-21

[4]

应用程序测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

丁光磊 ;

张钊 ;

蔡天勤 .

中国专利 :CN112699046A ,2021-04-23

[5]

应用程序测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

丁光磊 ;

张钊 ;

蔡天勤 .

中国专利 :CN112699046B ,2024-03-29

[6]

应用程序的性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘露平 ;

郑洪 ;

高琦 .

中国专利 :CN119046149A ,2024-11-29

[7]

应用程序的性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

潘莹 ;

孙毅 ;

何佳鸣 .

中国专利 :CN118132429B ,2025-11-28

[8]

应用程序的测试控制方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

丁光磊 ;

张钊 ;

蔡天勤 .

中国专利 :CN112631947A ,2021-04-09

[9]

应用程序的GUI测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

林晓升 .

中国专利 :CN119512910A ,2025-02-25

[10]

应用程序的性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

潘莹 ;

孙毅 ;

何佳鸣 .

中国专利 :CN118132429A ,2024-06-04

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