一种电解质熔盐初晶温度测定装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220628620.6

申请日：

2012-11-26

公开(公告)号：

CN202928713U

公开(公告)日：

2013-05-08

发明(设计)人：

颜恒维杨建红刘丹王成智张岩岩

申请人：

申请人地址：

100082 北京市海淀区西直门北大街62号

IPC主分类号：

G01K702

IPC分类号：

代理机构：

中国有色金属工业专利中心 11028

代理人：

李子健;李迎春

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-05-08	授权	授权
2022-12-13	专利权的终止	专利权有效期届满 IPC(主分类):G01K 7/02 申请日:20121126 授权公告日:20130508

共 50 条

[1]

一种熔盐电解质初晶温度测量装置及方法 [P].

张晓明 .

中国专利 :CN120403893A ,2025-08-01

[2]

一种工业熔盐电解质初晶温度测试装置 [P].

康雪 ;

侯剑峰 ;

刘灵霞 .

中国专利 :CN216816520U ,2022-06-24

[3]

铝电解质初晶温度现场测量装置 [P].

罗跃辉 ;

项阳 ;

雷波 ;

邹斌 ;

黄晓强 .

中国专利 :CN201041519Y ,2008-03-26

[4]

电解质初晶温度测量装置 [P].

王建平 ;

战国忠 ;

潘强 ;

董大旺 .

中国专利 :CN301111298D ,2010-01-13

[5]

电解质初晶温度检测装置 [P].

侯晓 ;

战国忠 ;

潘强 ;

董大旺 .

中国专利 :CN201166592Y ,2008-12-17

[6]

一种工业熔盐电解质初晶温度测试装置及测试方法 [P].

侯剑峰 ;

刘灵霞 ;

康雪 .

中国专利 :CN114199926A ,2022-03-18

[7]

一种铝电解电解质的初晶温度测量设备 [P].

韩伟 .

中国专利 :CN100520321C ,2008-03-12

[8]

电解质测定装置和电解质测定方法 [P].

殿村淳朗 .

中国专利 :CN106168599A ,2016-11-30

[9]

电解质测定装置 [P].

小泽理 .

中国专利 :CN112639455A ,2021-04-09

[10]

电解质浓度测定装置、电解质浓度测定方法 [P].

岸冈淳史 ;

小野哲义 .

中国专利 :CN112666234A ,2021-04-16

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