屏幕校准方法、校准装置及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910544958.X
申请日
2019-06-21
公开(公告)号
CN112116888A
公开(公告)日
2020-12-22
发明(设计)人
张嫄 钟桂林
申请人
申请人地址
100085 北京市海淀区清河中街68号华润五彩城购物中心二期9层01房间
IPC主分类号
G09G320
IPC分类号
代理机构
北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138
代理人
郑光
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
屏幕校准方法、校准装置及存储介质 [P]. 
张嫄 ;
钟桂林 .
中国专利 :CN112116888B ,2024-01-30
[2]
色温校准方法、色温校准装置及存储介质 [P]. 
郝宁 .
中国专利 :CN115706750B ,2024-05-24
[3]
色温校准方法、色温校准装置及存储介质 [P]. 
郝宁 .
中国专利 :CN115706750A ,2023-02-17
[4]
磁场校准方法、磁场校准装置及存储介质 [P]. 
赵潇扬 ;
房美琦 .
中国专利 :CN112525224A ,2021-03-19
[5]
磁场校准方法、磁场校准装置及存储介质 [P]. 
赵潇扬 ;
房美琦 .
中国专利 :CN112525224B ,2024-04-09
[6]
校准方法、待校准设备、校准装置、校准系统及存储介质 [P]. 
严欢 ;
冯维 .
中国专利 :CN120686177A ,2025-09-23
[7]
校准装置、校准方法以及校准程序存储介质 [P]. 
坂野盛彦 ;
佐藤启二 .
中国专利 :CN108141570B ,2018-06-08
[8]
校准装置、校准系统、移动系统、校准方法以及存储介质 [P]. 
松野喜幸 .
日本专利 :CN117840983A ,2024-04-09
[9]
校准系统、校准方法及存储介质 [P]. 
欧阳文斌 ;
文黎阳 ;
雷晶晶 .
中国专利 :CN112731247B ,2024-03-19
[10]
校准系统、校准方法及存储介质 [P]. 
欧阳文斌 ;
文黎阳 ;
雷晶晶 .
中国专利 :CN112731247A ,2021-04-30