光电子器件测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202120495533.7

申请日：

2021-03-09

公开(公告)号：

CN214473679U

公开(公告)日：

2021-10-22

发明(设计)人：

冉茂武

申请人：

申请人地址：

554300 贵州省铜仁市碧江区川硐办事处教育园区启航路238号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01R102 G01R104 F16H3712

代理机构：

北京佐行专利代理事务所(特殊普通合伙) 11683

代理人：

王二娟;王占愈

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-10-22	授权	授权

共 50 条

[1]

光电子器件设备 [P].

伯恩哈德·西塞格尔 ;

胡贝特·迈瓦尔德 ;

马里詹·科斯特伦 ;

菲利普·E·莫斯科维茨 ;

沃伦·P·莫斯科维茨 ;

诺温·冯马尔姆 .

中国专利 :CN104206010A ,2014-12-10

[2]

一种光电子器件测试设备 [P].

赵海涛 ;

罗亚非 .

中国专利 :CN217084557U ,2022-07-29

[3]

一种光电子器件测试设备 [P].

陈炜 .

中国专利 :CN216420229U ,2022-05-03

[4]

光电子器件 [P].

K·阿恩德特 ;

N·法希特奇安 .

中国专利 :CN100587982C ,2005-04-06

[5]

光电子器件 [P].

R·科菲 ;

J-M·里维耶 .

中国专利 :CN114725222A ,2022-07-08

[6]

光电子器件 [P].

安德烈亚斯·赖特 ;

保拉·阿尔铁里-魏玛 .

中国专利 :CN112262482A ,2021-01-22

[7]

光电子器件 [P].

K.格罗泽 ;

T.巴德 .

中国专利 :CN102985511B ,2013-03-20

[8]

光电子器件 [P].

K.P.霍梅伍德 ;

R.M.格威廉 .

中国专利 :CN110265519A ,2019-09-20

[9]

光电子器件 [P].

卢茨·赫佩尔 .

中国专利 :CN102428581B ,2012-04-25

[10]

光电子器件 [P].

郭宗海 ;

杨立 .

中国专利 :CN108153003A ,2018-06-12

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