晶片电性能测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201720768768.2

申请日：

2017-06-28

公开(公告)号：

CN207164176U

公开(公告)日：

2018-03-30

发明(设计)人：

李晓佳王毅

申请人：

申请人地址：

225008 江苏省扬州市平山堂北路江阳创业园三期

IPC主分类号：

G01R3102

IPC分类号：

代理机构：

扬州市苏为知识产权代理事务所(普通合伙) 32283

代理人：

周全

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-03-30	授权	授权

共 50 条

[1]

电性能测试装置 [P].

田政权 ;

黄小琳 ;

万法琦 ;

李方平 .

中国专利 :CN223679284U ,2025-12-16

[2]

电性能测试装置 [P].

庄志 ;

王迎利 ;

鲍晋珍 ;

宋华 ;

谢鹏程 ;

杜军力 ;

程跃 .

中国专利 :CN217787317U ,2022-11-11

[3]

电性能测试装置 [P].

阮建国 .

中国专利 :CN220305425U ,2024-01-05

[4]

电池电性能测试装置 [P].

顾国梁 ;

王福庆 ;

郑吴明 ;

肖攀 .

中国专利 :CN218181061U ,2022-12-30

[5]

一种蓝牙电性能测试装置 [P].

李立 .

中国专利 :CN211744740U ,2020-10-23

[6]

奇数尼龙电性能测试装置 [P].

廖良 ;

张洪 ;

张华峰 ;

廖家兴 ;

刘潇 ;

徐宏伟 .

中国专利 :CN222167132U ,2024-12-13

[7]

指纹芯片电性能测试装置 [P].

韩笑 ;

陈思乡 ;

姜传力 ;

翁水才 ;

鲍军其 ;

谢周阳 ;

刘治震 ;

章华荣 .

中国专利 :CN108051727A ,2018-05-18

[8]

一种电性能测试装置及电性能测试系统 [P].

孙飞龙 ;

童洪波 ;

李华 ;

靳玉鹏 .

中国专利 :CN212303937U ,2021-01-05

[9]

一种LCD产品电性能测试装置 [P].

汪连洪 .

中国专利 :CN204228850U ,2015-03-25

[10]

一种控制盒电性能测试装置 [P].

孟筠 ;

徐良 ;

王书礼 ;

刘景超 .

中国专利 :CN205384336U ,2016-07-13

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