一种PCIE热拔插测试方法、装置、终端及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810967274.6

申请日：

2018-08-23

公开(公告)号：

CN109117406B

公开(公告)日：

2019-01-01

发明(设计)人：

刘胜

申请人：

申请人地址：

450000 河南省郑州市郑东新区心怡路278号16层1601室

IPC主分类号：

G06F1340

IPC分类号：

代理机构：

济南舜源专利事务所有限公司 37205

代理人：

韩洪淼

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-02-18	授权	授权
2019-01-25	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 13/40 申请日:20180823
2019-01-01	公开	公开

共 50 条

[1]

一种PCIE测试方法、系统、终端及存储介质 [P].

杨根 .

中国专利 :CN112241345A ,2021-01-19

[2]

一种PCIE系统、热拔插处理方法及相关装置 [P].

王建红 .

中国专利 :CN109947686A ,2019-06-28

[3]

基于linux的NVME SSD热拔插测试方法、系统、终端及存储介质 [P].

孙薇 ;

刘宝塔 .

中国专利 :CN111209151A ,2020-05-29

[4]

一种自动模拟PCIE SSD热拔插测试的系统及方法 [P].

梁文俊 .

中国专利 :CN109918244A ,2019-06-21

[5]

一种热拔插处理方法、装置、设备、系统及可读存储介质 [P].

江博 ;

陈洪鑫 .

中国专利 :CN110502464A ,2019-11-26

[6]

一种PCIE设备的热复位方法、装置、存储介质及PCIE设备 [P].

周宇 ;

李泓霖 .

中国专利 :CN115061558A ,2022-09-16

[7]

一种基于PCIE接口高速传输方法、存储介质及终端 [P].

吴滔 ;

谢雪辉 ;

张吉锋 ;

曹叶 .

中国专利 :CN111045964B ,2020-04-21

[8]

一种测试方法、装置、存储介质及终端 [P].

孔德刚 .

中国专利 :CN109117365B ,2019-01-01

[9]

一种PCIe设备降级检测方法、装置、终端及存储介质 [P].

侯轲 ;

李婷婷 ;

芦飞 .

中国专利 :CN115801540B ,2024-10-22

[10]

终端测试方法、终端测试装置及存储介质 [P].

姜浩 .

中国专利 :CN112905439A ,2021-06-04

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