单板测试装置和方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010321038.4
申请日
2020-04-22
公开(公告)号
CN113533930A
公开(公告)日
2021-10-22
发明(设计)人
董经纬 王杨
申请人
申请人地址
518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R2316 G01R2100
代理机构
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
朱颖;刘芳
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
单板测试装置 [P]. 
董文喜 ;
彭博 ;
唐鹏 ;
曹力研 .
中国专利 :CN216747878U ,2022-06-14
[2]
一种射频单板的测试装置 [P]. 
闫晓艳 ;
张鹏 ;
钱崇丽 ;
吴德荣 .
中国专利 :CN101174907B ,2008-05-07
[3]
测试装置和测试方法 [P]. 
孙宁起 ;
刘应书 ;
周士钧 ;
唐启明 .
中国专利 :CN117471039A ,2024-01-30
[4]
单板自动化测试装置及方法 [P]. 
杨智君 ;
邹杰 ;
董积亮 ;
谢峰 .
中国专利 :CN119881598A ,2025-04-25
[5]
一种单板测试装置及方法 [P]. 
王志浩 .
中国专利 :CN107064777B ,2017-08-18
[6]
一种单板故障的检测方法和测试装置 [P]. 
王吓弟 ;
张庆 ;
闫晓艳 ;
范星 .
中国专利 :CN1959423A ,2007-05-09
[7]
射频器件测试装置和射频器件测试系统 [P]. 
邱建源 ;
李涛 ;
苏国生 .
中国专利 :CN212159865U ,2020-12-15
[8]
线路物理参数的测试装置、方法和单板设备 [P]. 
强铨一 ;
唐荣道 ;
张敏华 .
中国专利 :CN102175948B ,2011-09-07
[9]
充电测试装置和方法 [P]. 
孟龙龙 .
中国专利 :CN113267736B ,2021-08-17
[10]
芯片测试装置和方法 [P]. 
翟芳 ;
黄伟冠 ;
肖慧 .
中国专利 :CN118473407A ,2024-08-09