不合格的制造装置、晶片的检测方法和检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200410047964.8

申请日：

2004-06-09

公开(公告)号：

CN100399527C

公开(公告)日：

2005-02-02

发明(设计)人：

松下宏门多健一

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

H01L2166

IPC分类号：

代理机构：

北京市中咨律师事务所

代理人：

陈海红;段承恩

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2005-04-06	实质审查的生效	实质审查的生效
2014-08-06	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101584295230 IPC(主分类):H01L 21/66 专利号:ZL2004100479648 申请日:20040609 授权公告日:20080702 终止日期:20130609
2008-07-02	授权	授权
2005-02-02	公开	公开

共 50 条

[1]

挑选长度不合格的检测装置 [P].

卓秀萍 ;

李志斌 ;

顾芷玮 .

中国专利 :CN218133371U ,2022-12-27

[2]

检测不合格丝印标记的方法及装置 [P].

王恩美 .

中国专利 :CN101281027B ,2008-10-08

[3]

视觉检测装置以及检测不合格金属扣件的方法 [P].

杨卫星 ;

钟赟华 .

中国专利 :CN117960598A ,2024-05-03

[4]

不合格金属管材检测装置 [P].

蔡昌友 .

中国专利 :CN201155962Y ,2008-11-26

[5]

一种不合格产品的检测装置 [P].

翟伟良 ;

黄楚然 ;

李大森 ;

陈聃 ;

田甜 ;

王天明 .

中国专利 :CN205146709U ,2016-04-13

[6]

不合格焊盘间距检测装置及方法 [P].

朱秀珠 .

中国专利 :CN101216301B ,2008-07-09

[7]

罐体不合格品便捷检测装置 [P].

方晓敏 .

中国专利 :CN203268430U ,2013-11-06

[8]

一种不合格硅片检测装置 [P].

申开愉 ;

李雪方 ;

郭卫 ;

杨飞飞 ;

吕涛 ;

郭丽 ;

梁玲 .

中国专利 :CN212483693U ,2021-02-05

[9]

一种瓶盖不合格喷涂的检测装置 [P].

曾小斌 ;

曾访城 ;

王联合 .

中国专利 :CN215179796U ,2021-12-14

[10]

多联板的不合格品检测装置 [P].

费耀祺 ;

郑智贤 ;

陈恒智 .

中国专利 :CN2922409Y ,2007-07-11

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