学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
半导体制程检测系统及半导体制程检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010785550.4
申请日
:
2020-08-06
公开(公告)号
:
CN114068347A
公开(公告)日
:
2022-02-18
发明(设计)人
:
黎焕诚
陈咏裕
申请人
:
申请人地址
:
230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
IPC主分类号
:
H01L2167
IPC分类号
:
代理机构
:
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260
代理人
:
成丽杰
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-03-08
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/67 申请日:20200806
2022-02-18
公开
公开
共 50 条
[1]
半导体制程检测系统及半导体制程检测方法
[P].
黎焕诚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
黎焕诚
;
陈咏裕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
陈咏裕
.
中国专利
:CN114068347B
,2024-06-21
[2]
半导体制程检测方法及检测系统
[P].
陈振豪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈振豪
;
张四海
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张四海
;
余凯祥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
余凯祥
.
中国专利
:CN112397404B
,2021-02-23
[3]
半导体制程机台及其半导体制程
[P].
林武郎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林武郎
;
郑煌玉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑煌玉
;
王陈右
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王陈右
;
陈世敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈世敏
;
范釗傑
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
范釗傑
;
高诚志
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高诚志
;
刘又瑋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘又瑋
.
中国专利
:CN104253065A
,2014-12-31
[4]
半导体制程
[P].
王文杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王文杰
;
陈逸男
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈逸男
;
刘献文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘献文
.
中国专利
:CN102810505A
,2012-12-05
[5]
半导体制程
[P].
李秋德
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李秋德
.
中国专利
:CN101667540A
,2010-03-10
[6]
半导体制程
[P].
苏煜中
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
苏煜中
;
罗冠昕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗冠昕
;
郑雅如
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑雅如
;
张庆裕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张庆裕
;
林进祥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林进祥
.
中国专利
:CN110824845A
,2020-02-21
[7]
半导体制程系统
[P].
张志逢
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张志逢
;
陈伟仁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈伟仁
;
李俊億
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李俊億
;
林展永
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林展永
.
中国专利
:CN212322971U
,2021-01-08
[8]
半导体制程系统
[P].
利治育
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
利治育
;
卢建宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
卢建宏
;
郑迺汉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
郑迺汉
.
中国专利
:CN221427679U
,2024-07-26
[9]
半导体制程系统
[P].
魏愷进
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
魏愷进
;
陈哲夫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈哲夫
.
中国专利
:CN112750725A
,2021-05-04
[10]
半导体制程监视装置及半导体制程监视方法
[P].
井口和也
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
井口和也
;
增冈英树
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
增冈英树
;
大冢贤一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
大冢贤一
.
日本专利
:CN120457526A
,2025-08-08
←
1
2
3
4
5
→