半导体制程检测系统及半导体制程检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010785550.4
申请日
2020-08-06
公开(公告)号
CN114068347A
公开(公告)日
2022-02-18
发明(设计)人
黎焕诚 陈咏裕
申请人
申请人地址
230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
IPC主分类号
H01L2167
IPC分类号
代理机构
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260
代理人
成丽杰
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体制程检测系统及半导体制程检测方法 [P]. 
黎焕诚 ;
陈咏裕 .
中国专利 :CN114068347B ,2024-06-21
[2]
半导体制程检测方法及检测系统 [P]. 
陈振豪 ;
张四海 ;
余凯祥 .
中国专利 :CN112397404B ,2021-02-23
[3]
半导体制程机台及其半导体制程 [P]. 
林武郎 ;
郑煌玉 ;
王陈右 ;
陈世敏 ;
范釗傑 ;
高诚志 ;
刘又瑋 .
中国专利 :CN104253065A ,2014-12-31
[4]
半导体制程 [P]. 
王文杰 ;
陈逸男 ;
刘献文 .
中国专利 :CN102810505A ,2012-12-05
[5]
半导体制程 [P]. 
李秋德 .
中国专利 :CN101667540A ,2010-03-10
[6]
半导体制程 [P]. 
苏煜中 ;
罗冠昕 ;
郑雅如 ;
张庆裕 ;
林进祥 .
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[7]
半导体制程系统 [P]. 
张志逢 ;
陈伟仁 ;
李俊億 ;
林展永 .
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[8]
半导体制程系统 [P]. 
利治育 ;
卢建宏 ;
郑迺汉 .
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[9]
半导体制程系统 [P]. 
魏愷进 ;
陈哲夫 .
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[10]
半导体制程监视装置及半导体制程监视方法 [P]. 
井口和也 ;
增冈英树 ;
大冢贤一 .
日本专利 :CN120457526A ,2025-08-08