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多波长光电测量装置、共焦测量装置、干涉测量装置和颜色测量装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201580034988.6
申请日
:
2015-06-23
公开(公告)号
:
CN106471332A
公开(公告)日
:
2017-03-01
发明(设计)人
:
久我翔马
申请人
:
申请人地址
:
日本大阪府
IPC主分类号
:
G01B1106
IPC分类号
:
G01B1100
G01J345
G01J346
代理机构
:
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112
代理人
:
顾红霞;何胜勇
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2017-05-03
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101717004619 IPC(主分类):G01B 11/06 专利申请号:2015800349886 申请日:20150623
2017-03-01
公开
公开
2019-07-09
授权
授权
共 50 条
[1]
多波长共焦测量装置
[P].
久我翔马
论文数:
0
引用数:
0
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0
久我翔马
.
中国专利
:CN110196020A
,2019-09-03
[2]
共焦测量装置
[P].
丸川真理子
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0
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0
丸川真理子
;
早川雅之
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早川雅之
;
奥田贵启
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奥田贵启
;
森野久康
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0
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0
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0
森野久康
.
中国专利
:CN108571929A
,2018-09-25
[3]
共焦测量装置
[P].
古川慎也
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0
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0
古川慎也
;
菅孝博
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菅孝博
;
滝政宏章
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0
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0
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0
滝政宏章
.
中国专利
:CN108534682A
,2018-09-14
[4]
共焦测量装置
[P].
森野久康
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0
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森野久康
;
髙嶋润
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髙嶋润
;
奥田贵启
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奥田贵启
;
的场贤一
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的场贤一
;
滝政宏章
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滝政宏章
.
中国专利
:CN109596045B
,2019-04-09
[5]
光电测量装置
[P].
J·辛德林
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0
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0
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0
J·辛德林
.
中国专利
:CN106646501A
,2017-05-10
[6]
光电测量装置
[P].
J·J·祖祖埃吉尔·穆希卡
论文数:
0
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0
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0
J·J·祖祖埃吉尔·穆希卡
.
中国专利
:CN111207669A
,2020-05-29
[7]
光电测量装置
[P].
王振兴
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0
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0
王振兴
.
中国专利
:CN203758460U
,2014-08-06
[8]
光电测量装置
[P].
托马斯·莫拉安斯·卡尔沃
论文数:
0
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0
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机构:
发格自动化股份合作有限公司
发格自动化股份合作有限公司
托马斯·莫拉安斯·卡尔沃
;
J·J·阿兹科纳·伊里巴尔
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0
引用数:
0
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0
机构:
发格自动化股份合作有限公司
发格自动化股份合作有限公司
J·J·阿兹科纳·伊里巴尔
.
:CN121112904A
,2025-12-12
[9]
光电测量装置
[P].
J·J·尊佐尼·穆加卡
论文数:
0
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0
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0
J·J·尊佐尼·穆加卡
.
中国专利
:CN111336926A
,2020-06-26
[10]
光电测量装置
[P].
何塞·哈维尔·孙苏内吉·穆吉萨
论文数:
0
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0
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何塞·哈维尔·孙苏内吉·穆吉萨
;
胡安·卡洛斯·德尔加·希门尼斯
论文数:
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0
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0
胡安·卡洛斯·德尔加·希门尼斯
.
中国专利
:CN102192694A
,2011-09-21
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