一种基于深度学习技术的远端芯片缺陷检测系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111096252.5

申请日：

2021-09-18

公开(公告)号：

CN113870202A

公开(公告)日：

2021-12-31

发明(设计)人：

程坦邹爱刚刘涛汪玮

申请人：

申请人地址：

214000 江苏省无锡市滨湖区新城置业大厦20楼

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G06T713 G06T7136 G06T762 G06T766 G06K932 G06K946 G06K962 G06N302 G06T360 G06T520

代理机构：

安徽善安知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34200

代理人：

陈庭

法律状态：

公开

国省代码：

引用

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共 50 条

[1]

一种基于深度学习的灯罩缺陷检测系统 [P].

曹宇 ;

鞠麒昆 .

中国专利 :CN113192051A ,2021-07-30

[2]

基于深度学习技术的纳米压印缺陷检测系统及方法 [P].

冯志珍 ;

尹承明 ;

冀然 .

中国专利 :CN119991590A ,2025-05-13

[3]

一种基于深度学习技术的H型钢多表面并行缺陷检测系统 [P].

黄啸 ;

吴龙 ;

黎尧 ;

邱思杰 .

中国专利 :CN121213448A ,2025-12-26

[4]

一种基于深度学习技术的静脉注射器具表面缺陷检测系统 [P].

兰勇 ;

王治国 ;

王宪勇 ;

王超 ;

段盛晴 .

中国专利 :CN117474856A ,2024-01-30

[5]

一种基于深度学习的布匹缺陷检测方法 [P].

韩超 ;

石玄 ;

尹俊青 ;

刘念 .

中国专利 :CN120495198A ,2025-08-15

[6]

一种基于深度学习方法的芯片缺陷检测方法 [P].

张国和 ;

丁莎 ;

陈琳 .

中国专利 :CN114463269A ,2022-05-10

[7]

一种结合深度学习的塑封芯片内部缺陷检测方法 [P].

黄仙山 ;

杨舟 ;

程莹 ;

陶新宇 .

中国专利 :CN116030039B ,2025-08-01

[8]

一种基于深度学习技术的安全穿戴规范检测系统 [P].

邢云生 ;

梅文豪 ;

陈鹏宇 ;

李伟 .

中国专利 :CN115690687A ,2023-02-03

[9]

一种基于深度学习技术的印章检测方法 [P].

梁延灼 .

中国专利 :CN111753785A ,2020-10-09

[10]

一种基于深度学习技术的行人检测方法 [P].

张祝平 ;

张成 ;

徐平平 ;

戴磊 .

中国专利 :CN106203506B ,2016-12-07

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-31	公开	公开
2022-01-21	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210918