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接触孔偏移量测结构
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201420508924.8
申请日
:
2014-09-04
公开(公告)号
:
CN204045551U
公开(公告)日
:
2014-12-24
发明(设计)人
:
蔡孟峰
黄晨
申请人
:
申请人地址
:
100176 北京市大兴区大兴区经济技术开发区(亦庄)文昌大道18号
IPC主分类号
:
H01L2166
IPC分类号
:
代理机构
:
上海光华专利事务所 31219
代理人
:
李仪萍
法律状态
:
专利权的终止
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-08-21
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:20140904 授权公告日:20141224 终止日期:20190904
2014-12-24
授权
授权
共 50 条
[1]
接触孔偏移量测结构
[P].
蔡孟峰
论文数:
0
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蔡孟峰
;
黄晨
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黄晨
.
中国专利
:CN204216010U
,2015-03-18
[2]
偏移量测治具
[P].
许仕龙
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许仕龙
.
中国专利
:CN2769063Y
,2006-04-05
[3]
盲孔偏移量检测结构及电路板钻孔偏移测试模块
[P].
秦超标
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机构:
珠海兴科半导体有限公司
珠海兴科半导体有限公司
秦超标
;
谢添华
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机构:
珠海兴科半导体有限公司
珠海兴科半导体有限公司
谢添华
;
杨新启
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机构:
珠海兴科半导体有限公司
珠海兴科半导体有限公司
杨新启
;
余波涛
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机构:
珠海兴科半导体有限公司
珠海兴科半导体有限公司
余波涛
.
中国专利
:CN223050614U
,2025-07-01
[4]
偏移量检测治具
[P].
闵蛟
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闵蛟
;
王新勇
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王新勇
;
王锁吉
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王锁吉
;
李腾
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李腾
.
中国专利
:CN203479203U
,2014-03-12
[5]
一种光刻拼接偏移量测量结构及其形成方法、光刻拼接偏移量测量方法
[P].
张天夫
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机构:
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
张天夫
;
段培业
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机构:
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
段培业
;
朱宏亮
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机构:
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
朱宏亮
;
谢逸飞
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机构:
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
谢逸飞
.
中国专利
:CN118348756A
,2024-07-16
[6]
腕臂偏移量检测装置
[P].
谢秋里
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谢秋里
;
张俊
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张俊
;
杜博文
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杜博文
;
张立涛
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张立涛
;
李亚辉
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李亚辉
;
王敬渊
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王敬渊
;
吕向阳
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吕向阳
;
田霆
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田霆
;
樊卫民
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樊卫民
;
付添行
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付添行
;
李烈龙
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李烈龙
.
中国专利
:CN214149153U
,2021-09-07
[7]
接触孔偏移检测方法以及检测结构
[P].
吴浩
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吴浩
.
中国专利
:CN102376601A
,2012-03-14
[8]
道岔表示杆偏移量探头
[P].
郑金奎
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郑金奎
;
熊政明
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熊政明
;
景小军
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景小军
.
中国专利
:CN2557382Y
,2003-06-25
[9]
翻盖偏移量测试装置
[P].
王合祥
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王合祥
;
易万宏
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易万宏
;
宋洁
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宋洁
;
容胜丰
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容胜丰
.
中国专利
:CN201145581Y
,2008-11-05
[10]
钢带偏移量在线测量装置
[P].
穆洪彪
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穆洪彪
;
曹平
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曹平
.
中国专利
:CN203240983U
,2013-10-16
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