同轴测试探针模组及其测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202022157104.7
申请日
2020-09-27
公开(公告)号
CN213689716U
公开(公告)日
2021-07-13
发明(设计)人
李定宗
申请人
申请人地址
215300 江苏省苏州市昆山开发区金沙江南路18号
IPC主分类号
G01R1073
IPC分类号
代理机构
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人
王玉双;张燕华
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
测试探针、光学芯片模组测试探针组件及测试装置 [P]. 
朱小刚 .
中国专利 :CN212845744U ,2021-03-30
[2]
测试探针、测试探针模块及测试装置 [P]. 
魏津 ;
胡雪原 ;
徐润生 .
中国专利 :CN113466504B ,2021-10-01
[3]
集成电路测试装置及其测试探针 [P]. 
王国华 ;
谢伟 .
中国专利 :CN206696394U ,2017-12-01
[4]
PCB板测试装置及其测试探针 [P]. 
殷方胜 .
中国专利 :CN204347079U ,2015-05-20
[5]
同轴高压测试探针 [P]. 
黄利红 .
中国专利 :CN220854983U ,2024-04-26
[6]
一种异形同轴测试探针及其测试装置 [P]. 
刘权 ;
张海洋 ;
刘伟 ;
吕文波 .
中国专利 :CN115097175A ,2022-09-23
[7]
飞针测试装置及其测试探针 [P]. 
谭艳萍 ;
王星 ;
翟学涛 ;
杨朝辉 ;
高云峰 .
中国专利 :CN204116399U ,2015-01-21
[8]
测试探针、光学芯片模组测试探针组件、探针组件组装方法及光学芯片模组测试装置 [P]. 
朱小刚 .
中国专利 :CN111398791A ,2020-07-10
[9]
测试探针、测试装置及测试方法 [P]. 
周超 ;
黄先纯 ;
张涛 ;
吴正运 ;
耿涛 ;
甘由鹏 .
中国专利 :CN107102181B ,2017-08-29
[10]
测试探针模组 [P]. 
孙玉 .
中国专利 :CN221976964U ,2024-11-08