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同轴测试探针模组及其测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202022157104.7
申请日
:
2020-09-27
公开(公告)号
:
CN213689716U
公开(公告)日
:
2021-07-13
发明(设计)人
:
李定宗
申请人
:
申请人地址
:
215300 江苏省苏州市昆山开发区金沙江南路18号
IPC主分类号
:
G01R1073
IPC分类号
:
代理机构
:
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人
:
王玉双;张燕华
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-07-13
授权
授权
共 50 条
[1]
测试探针、光学芯片模组测试探针组件及测试装置
[P].
朱小刚
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0
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0
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朱小刚
.
中国专利
:CN212845744U
,2021-03-30
[2]
测试探针、测试探针模块及测试装置
[P].
魏津
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魏津
;
胡雪原
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胡雪原
;
徐润生
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徐润生
.
中国专利
:CN113466504B
,2021-10-01
[3]
集成电路测试装置及其测试探针
[P].
王国华
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王国华
;
谢伟
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谢伟
.
中国专利
:CN206696394U
,2017-12-01
[4]
PCB板测试装置及其测试探针
[P].
殷方胜
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殷方胜
.
中国专利
:CN204347079U
,2015-05-20
[5]
同轴高压测试探针
[P].
黄利红
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机构:
深圳市欧瑞特实业有限公司
深圳市欧瑞特实业有限公司
黄利红
.
中国专利
:CN220854983U
,2024-04-26
[6]
一种异形同轴测试探针及其测试装置
[P].
刘权
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刘权
;
张海洋
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张海洋
;
刘伟
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刘伟
;
吕文波
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吕文波
.
中国专利
:CN115097175A
,2022-09-23
[7]
飞针测试装置及其测试探针
[P].
谭艳萍
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谭艳萍
;
王星
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王星
;
翟学涛
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翟学涛
;
杨朝辉
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杨朝辉
;
高云峰
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高云峰
.
中国专利
:CN204116399U
,2015-01-21
[8]
测试探针、光学芯片模组测试探针组件、探针组件组装方法及光学芯片模组测试装置
[P].
朱小刚
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朱小刚
.
中国专利
:CN111398791A
,2020-07-10
[9]
测试探针、测试装置及测试方法
[P].
周超
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周超
;
黄先纯
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黄先纯
;
张涛
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张涛
;
吴正运
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吴正运
;
耿涛
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耿涛
;
甘由鹏
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甘由鹏
.
中国专利
:CN107102181B
,2017-08-29
[10]
测试探针模组
[P].
孙玉
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机构:
苏州华兴源创科技股份有限公司
苏州华兴源创科技股份有限公司
孙玉
.
中国专利
:CN221976964U
,2024-11-08
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