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一种三维测量系统的标定方法及测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110063238.9
申请日
:
2021-01-18
公开(公告)号
:
CN112985258A
公开(公告)日
:
2021-06-18
发明(设计)人
:
卢晓婷
曾祥军
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市南山区桃源街道同富裕工业城3号厂房1楼
IPC主分类号
:
G01B1100
IPC分类号
:
G01B1125
代理机构
:
深圳市华优知识产权代理事务所(普通合伙) 44319
代理人
:
余薇
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-07-06
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20210118
共 50 条
[1]
三维测量系统及三维测量方法
[P].
太田润
论文数:
0
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0
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0
太田润
;
松本慎也
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松本慎也
;
木口哲也
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木口哲也
.
中国专利
:CN113748313A
,2021-12-03
[2]
三维测量系统和三维测量方法
[P].
田村仁
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田村仁
;
山形智生
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山形智生
;
栗原健人
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栗原健人
;
外川阳一
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外川阳一
.
中国专利
:CN113330277B
,2021-08-31
[3]
三维测量系统与三维测量方法
[P].
余良彬
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余良彬
;
林栋
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林栋
.
中国专利
:CN103376071B
,2013-10-30
[4]
三维测量系统以及三维测量方法
[P].
大西康裕
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大西康裕
;
清水隆史
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清水隆史
;
松本慎也
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松本慎也
.
中国专利
:CN111566437A
,2020-08-21
[5]
三维测量方法和系统
[P].
黄淦
论文数:
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黄淦
.
中国专利
:CN113418472B
,2021-09-21
[6]
一种三维测量系统的标定和重建方法及三维测量系统
[P].
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机构:
刘晓利
;
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机构:
杨洋
;
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机构:
缪裕培
;
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机构:
汤其剑
;
论文数:
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机构:
彭翔
.
中国专利
:CN114964052B
,2025-04-22
[7]
三维测量装置和三维测量方法
[P].
岩井一能
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岩井一能
.
中国专利
:CN104380037A
,2015-02-25
[8]
一种三维测量系统及其测量方法
[P].
韩建辉
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机构:
苏州博众半导体有限公司
苏州博众半导体有限公司
韩建辉
;
舒远
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机构:
苏州博众半导体有限公司
苏州博众半导体有限公司
舒远
;
徐念
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机构:
苏州博众半导体有限公司
苏州博众半导体有限公司
徐念
;
唐文波
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机构:
苏州博众半导体有限公司
苏州博众半导体有限公司
唐文波
;
王志琪
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机构:
苏州博众半导体有限公司
苏州博众半导体有限公司
王志琪
;
冯安伟
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机构:
苏州博众半导体有限公司
苏州博众半导体有限公司
冯安伟
;
杨敏
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机构:
苏州博众半导体有限公司
苏州博众半导体有限公司
杨敏
;
韩鑫
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机构:
苏州博众半导体有限公司
苏州博众半导体有限公司
韩鑫
;
马行
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机构:
苏州博众半导体有限公司
苏州博众半导体有限公司
马行
.
中国专利
:CN118275441A
,2024-07-02
[9]
跟踪式三维测量系统和三维测量方法
[P].
王江峰
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机构:
思看科技(杭州)股份有限公司
思看科技(杭州)股份有限公司
王江峰
;
王健宇
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机构:
思看科技(杭州)股份有限公司
思看科技(杭州)股份有限公司
王健宇
;
杨小福
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机构:
思看科技(杭州)股份有限公司
思看科技(杭州)股份有限公司
杨小福
;
陈尚俭
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机构:
思看科技(杭州)股份有限公司
思看科技(杭州)股份有限公司
陈尚俭
;
郑俊
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机构:
思看科技(杭州)股份有限公司
思看科技(杭州)股份有限公司
郑俊
.
中国专利
:CN117346681A
,2024-01-05
[10]
三维测量装置、三维测量方法
[P].
田端伸章
论文数:
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田端伸章
.
中国专利
:CN112567199B
,2021-03-26
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