绝缘子图像分割与缺陷检测方法、装置、存储介质及设备

被引：0

申请号：

CN202210895310.9

申请日：

2022-07-26

公开(公告)号：

CN115641288A

公开(公告)日：

2023-01-24

发明(设计)人：

尹韬黄进波冯洁文唐小煜

申请人：

申请人地址：

510006 广东省广州市番禺区外环西路378号华南师范大学物理与电信工程学院

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G06T550

代理机构：

广州骏思知识产权代理有限公司 44425

代理人：

叶琼园

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-24	公开	公开
2023-02-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20220726

共 50 条

[1]

绝缘子图像分割与缺陷检测方法、装置、存储介质及设备 [P].

尹韬 ;

黄进波 ;

冯洁文 ;

唐小煜 .

中国专利 :CN115641288B ,2025-12-05

[2]

绝缘子缺陷检测方法、系统、设备及存储介质 [P].

赵裕成 ;

张志勇 ;

陈超 ;

艾坤 ;

刘海峰 ;

王子磊 ;

汪琪 .

中国专利 :CN115546568A ,2022-12-30

[3]

绝缘子缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

张俊锋 ;

刘奇 ;

王五丰 ;

隗杰 ;

帅率 .

中国专利 :CN114693609A ,2022-07-01

[4]

一种绝缘子缺陷检测方法、装置、介质和设备 [P].

董守田 ;

秦贻祺 ;

张麒 ;

李本睿 ;

杨茗贺 .

中国专利 :CN120219919A ,2025-06-27

[5]

复合绝缘子的缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和产品 [P].

李言武 ;

马睿 ;

韦德照 ;

孙同庆 ;

毛登辉 ;

何甜 ;

卓子新 .

中国专利 :CN119989214A ,2025-05-13

[6]

一种绝缘子图像的缺陷检测方法及装置 [P].

杨英仪 .

中国专利 :CN113762384A ,2021-12-07

[7]

一种绝缘子图像的缺陷检测方法及装置 [P].

杨英仪 .

中国专利 :CN113762384B ,2024-06-21

[8]

绝缘子串缺陷检测方法、设备终端及存储介质 [P].

吴晓松 ;

陈俪赟 ;

吴奇文 ;

蔡敏权 ;

温晓东 ;

舒震宇 ;

潘文镇 .

中国专利 :CN115421006A ,2022-12-02

[9]

绝缘子缺陷检测模型构建及绝缘子缺陷检测方法、装置 [P].

刘方涛 ;

刘月娥 ;

刘建国 ;

李峥嵘 .

中国专利 :CN115471487A ,2022-12-13

[10]

绝缘子缺陷检测模型构建方法及检测方法 [P].

李强 ;

卢政华 ;

沈应靠 ;

郭纯海 ;

孙勇 ;

刘世增 ;

禹晋云 ;

张孔 ;

李子由 .

中国专利 :CN119648677A ,2025-03-18

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