一种晶片自动测试机

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201921036565.X
申请日
2019-07-04
公开(公告)号
CN210162770U
公开(公告)日
2020-03-20
发明(设计)人
范群意
申请人
申请人地址
518049 广东省深圳市福田区梅林八号路天居水木澜山居1栋16B
IPC主分类号
B65G4790
IPC分类号
B65G4774
代理机构
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
胡彬
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种晶片自动测试机 [P]. 
范群意 .
中国专利 :CN110239947B ,2024-12-13
[2]
一种晶片自动测试机 [P]. 
范群意 .
中国专利 :CN110239947A ,2019-09-17
[3]
一种测试装置及晶片自动测试机 [P]. 
范群意 .
中国专利 :CN210376602U ,2020-04-21
[4]
一种移载装置及晶片自动测试机 [P]. 
范群意 .
中国专利 :CN210365892U ,2020-04-21
[5]
一种测试装置及晶片自动测试机 [P]. 
范群意 .
中国专利 :CN110320462A ,2019-10-11
[6]
一种测试装置及晶片自动测试机 [P]. 
范群意 .
中国专利 :CN110320462B ,2025-02-28
[7]
自动测试机 [P]. 
秦道刚 .
中国专利 :CN202093108U ,2011-12-28
[8]
自动测试机 [P]. 
程伟 ;
董金林 ;
刘于海 ;
张勇 .
中国专利 :CN201331559Y ,2009-10-21
[9]
一种料盘装置及晶片自动测试机 [P]. 
范群意 .
中国专利 :CN210365829U ,2020-04-21
[10]
无线模组自动测试机 [P]. 
李福斌 .
中国专利 :CN216917694U ,2022-07-08