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一种台式镀层测厚仪

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202022433571.8
申请日：
2020-10-28
公开(公告)号：
CN213067380U
公开(公告)日：
2021-04-27
发明(设计)人：
郑铭峰 童智勇 聂美洪 蔡瑞新 葛建雄
申请人：
申请人地址：
437300 湖北省咸宁市赤壁市锁石岭路166号
IPC主分类号：
G01B506
IPC分类号：
代理机构：
武汉经世知识产权代理事务所(普通合伙) 42254
代理人：
高照
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-04-27 授权 授权
共 50 条
[1]
一种台式镀层测厚仪 [P]. 
覃诗兵 .
中国专利 :CN209326586U ,2019-08-30
[2]
镀层测厚仪 [P]. 
薛灿 .
中国专利 :CN207095508U ,2018-03-13
[3]
一种电镀镀层测厚仪 [P]. 
黎书圣 ;
李伟龙 .
中国专利 :CN215064423U ,2021-12-07
[4]
一种镀层测厚仪 [P]. 
吴东儒 .
中国专利 :CN213579048U ,2021-06-29
[5]
一种X射线镀层测厚仪 [P]. 
喻学立 ;
黄文 .
中国专利 :CN211652625U ,2020-10-09
[6]
一种新型涂镀层测厚仪 [P]. 
张麟翔 .
中国专利 :CN209512779U ,2019-10-18
[7]
一种电镀导体镀层测厚仪 [P]. 
何如森 ;
王权宏 .
中国专利 :CN205981124U ,2017-02-22
[8]
一种镀层测厚仪样品工装 [P]. 
邰英华 ;
安名琮 .
中国专利 :CN210400240U ,2020-04-24
[9]
一种高精密镀层测厚仪 [P]. 
王夫君 .
中国专利 :CN215064425U ,2021-12-07
[10]
一种X射线镀层测厚仪 [P]. 
李雨 ;
李桂麟 ;
袁丽红 .
中国专利 :CN218002472U ,2022-12-09
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