用于无接触测量距一表面的距离或两个表面之间的距离的方法和设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201880062730.0

申请日：

2018-09-20

公开(公告)号：

CN111373301B

公开(公告)日：

2020-07-03

发明(设计)人：

克里斯托夫·迪茨

申请人：

申请人地址：

德国新伊森堡

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

G01B1106 G01B1114 G01B1124 G01B1130 G01B902 G01J302 G02B2100

代理机构：

北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413

代理人：

谢攀;刘继富

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-09-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G02B 21/00 申请日:20180920
2020-07-03	公开	公开
2022-08-02	授权	授权

共 50 条

[1]

用于检测两个元件之间的距离的测量布置结构、测距设备、光学测量系统和方法 [P].

J·赫茨勒 .

德国专利 :CN119546922A ,2025-02-28

[2]

用于测量距离的设备和用于测量所述距离的方法 [P].

达妮埃莱·佩伦佐尼 ;

大卫·斯托帕 ;

莱昂纳多·加斯帕里尼 ;

马泰奥·佩伦佐尼 ;

尼古拉·马萨里 .

中国专利 :CN109239724A ,2019-01-18

[3]

用于无接触测量距离的测量仪 [P].

约尔格·施蒂尔勒 ;

彼得·沃尔夫 .

中国专利 :CN100442079C ,2005-07-06

[4]

距离测量设备和通过使用距离测量设备测量距离的方法 [P].

大塚达宏 ;

金桢祐 .

中国专利 :CN112558090A ,2021-03-26

[5]

距离测量设备和通过使用距离测量设备测量距离的方法 [P].

李智山 ;

黄仁吾 .

中国专利 :CN114428254A ,2022-05-03

[6]

距离测量设备和通过使用距离测量设备测量距离的方法 [P].

大塚达宏 ;

金桢祐 .

韩国专利 :CN112558090B ,2025-09-02

[7]

无接触地测量光源距离的光学设备 [P].

X·莱韦吉 ;

S·布库尔 .

中国专利 :CN1230692C ,2000-06-21

[8]

多个方向上的距离的无接触测量设备 [P].

菲利普·布勒 .

中国专利 :CN1332174C ,2005-12-14

[9]

非接触式测量距离和/或外形的装置和方法 [P].

T·奥托 ;

P·梅雅 ;

T·施塔梅斯特 .

中国专利 :CN102341730B ,2012-02-01

[10]

用于光学测量距离的方法和设备 [P].

H·霍尔朱特 ;

F·朗格 ;

C·费伦贝格 .

中国专利 :CN112799034A ,2021-05-14

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