基于最优尺度高斯过程模型的IGBT剩余寿命预测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811024554.X

申请日：

2018-09-04

公开(公告)号：

CN109284543A

公开(公告)日：

2019-01-29

发明(设计)人：

李玲玲常计东张鑫保李志刚刘伯颖张君婷

申请人：

申请人地址：

300401 天津市北辰区西平道5340号河北工业大学

IPC主分类号：

G06F1750

IPC分类号：

代理机构：

天津盛理知识产权代理有限公司 12209

代理人：

王利文

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-01-29	公开	公开
2019-03-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20180904

共 50 条

[1]

基于GARCH模型的IGBT剩余使用寿命预测方法 [P].

白梁军 ;

汪涛 ;

周扬 ;

黄萌 ;

张茂强 ;

文继锋 ;

卢宇 ;

李响 .

中国专利 :CN113919116A ,2022-01-11

[2]

基于GARCH模型的IGBT剩余使用寿命预测方法 [P].

白梁军 ;

汪涛 ;

周扬 ;

黄萌 ;

张茂强 ;

文继锋 ;

卢宇 ;

李响 .

中国专利 :CN113919116B ,2024-10-22

[3]

基于高斯过程回归与LSTM神经网络的IGBT寿命预测方法 [P].

林珊 ;

康佐 ;

李鲲鹏 ;

余海 ;

黄强 ;

陈宁 ;

谢明华 ;

张宁 ;

李雅静 ;

刘曦 ;

许榅增 ;

侯礼兴 ;

王良 ;

蔡杰奇 ;

王明辉 ;

廖振宁 .

中国专利 :CN120541393A ,2025-08-26

[4]

IGBT模块剩余寿命跨工况预测方法 [P].

黄亦翔 ;

钟智伟 ;

王誉翔 ;

夏鹏程 ;

陶智宇 .

中国专利 :CN116266249B ,2025-07-22

[5]

IGBT模块剩余寿命预测方法及装置 [P].

杨鹏 ;

田源 ;

高树国 ;

姜士哲 ;

朱瑞敏 .

中国专利 :CN120256855A ,2025-07-04

[6]

电池剩余寿命预测模型构建、电池剩余寿命预测方法 [P].

郄瑜 .

中国专利 :CN114565172A ,2022-05-31

[7]

基于高斯过程模型的流感预测建模方法及装置 [P].

陈善恩 ;

张玺 .

中国专利 :CN110444298A ,2019-11-12

[8]

IGBT剩余寿命预测和状态评估实现方法 [P].

黄亦翔 ;

葛建文 .

中国专利 :CN113759225B ,2021-12-07

[9]

基于FIG和IPSO算法的IGBT剩余寿命预测方法 [P].

王尚亭 ;

刘震 ;

程玉华 .

中国专利 :CN113239654B ,2021-08-10

[10]

基于物理引导混沌高斯模型的机械系统剩余寿命预测方法 [P].

汪俊豪 ;

朱林 ;

董晓彤 ;

毛文浩 ;

黄欣怡 .

中国专利 :CN119227538A ,2024-12-31

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