光检测和测距传感器

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201680074428.8

申请日：

2016-12-08

公开(公告)号：

CN108431626B

公开(公告)日：

2018-08-21

发明(设计)人：

C·L·尼西亚斯 A·施庞特 G·A·阿干诺夫 M·C·瓦尔登 M·A·雷兹克 T·欧吉雅

申请人：

申请人地址：

美国加利福尼亚

IPC主分类号：

G01S7481

IPC分类号：

G01S74865 G01S1710 G01S1742

代理机构：

中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038

代理人：

宿小猛

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-08-21	公开	公开
2018-09-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 7/481 申请日:20161208
2022-06-17	授权	授权

共 50 条

[1]

光检测和测距传感器 [P].

C·L·尼西亚斯 ;

A·施庞特 ;

G·A·阿干诺夫 ;

M·C·瓦尔登 ;

M·A·雷兹克 ;

T·欧吉雅 .

中国专利 :CN111239708A ,2020-06-05

[2]

光检测和测距传感器 [P].

C·L·尼西亚斯 ;

A·施庞特 ;

G·A·阿干诺夫 ;

M·C·瓦尔登 ;

M·A·雷兹克 ;

T·欧吉雅 .

美国专利 :CN111239708B ,2024-01-09

[3]

光检测和测距传感器 [P].

P.C.洛姆布罗佐 ;

F.J.A.里韦拉 .

中国专利 :CN210270155U ,2020-04-07

[4]

光探测和测距传感器 [P].

曹圣恩 ;

金庆麟 ;

金元谦 ;

金荣信 .

中国专利 :CN110531370A ,2019-12-03

[5]

光测距传感器 [P].

宁霄光 ;

赤木哲也 .

中国专利 :CN110231629A ,2019-09-13

[6]

测距传感器、检测传感器、测距方法和电子装置 [P].

大木光晴 .

中国专利 :CN111356899A ,2020-06-30

[7]

光检测装置、光检测方法和光学式测距传感器 [P].

堀野昌伸 ;

松井优贵 ;

中室健 ;

仲田佐幸 .

中国专利 :CN111819464A ,2020-10-23

[8]

光检测和测距传感器设备及其控制方法 [P].

金荣信 ;

金元谦 ;

金庆麟 ;

曹圣恩 .

中国专利 :CN112285728A ,2021-01-29

[9]

光干涉测距传感器 [P].

木村和哉 .

日本专利 :CN119916382A ,2025-05-02

[10]

测距传感器、测距传感器的驱动方法和测距模块 [P].

安阳太郎 ;

贾许·汉诺克 .

中国专利 :CN114270806A ,2022-04-01

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