性能测试方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111574039.0

申请日：

2021-12-21

公开(公告)号：

CN114238130A

公开(公告)日：

2022-03-25

发明(设计)人：

陈铮秦军冯捷

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田区福田街道福华路319号兆邦基金融大厦26层2606单元

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

G06F1134

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

杨志强

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-25	公开	公开
2022-04-12	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20211221

共 50 条

[1]

显示性能测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

赵代碧 ;

雒晓莉 ;

石峰 ;

张志超 ;

王瑞 ;

何海波 ;

黄浩 .

中国专利 :CN113838397B ,2024-05-28

[2]

显示性能测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

赵代碧 ;

雒晓莉 ;

石峰 ;

张志超 ;

王瑞 ;

何海波 ;

黄浩 .

中国专利 :CN113838397A ,2021-12-24

[3]

性能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

高举波 .

中国专利 :CN118016139A ,2024-05-10

[4]

性能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

王丽红 ;

过晓春 ;

陈学伟 .

中国专利 :CN117827601A ,2024-04-05

[5]

性能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

李浩 ;

宋雨伦 ;

李大中 ;

吕烨 .

中国专利 :CN117880139A ,2024-04-12

[6]

性能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

蒋政胜 .

中国专利 :CN120950375A ,2025-11-14

[7]

性能测试方法、设备及存储介质 [P].

刘玮 .

中国专利 :CN119363616A ,2025-01-24

[8]

性能测试方法、装置、系统、测试设备及存储介质 [P].

闫霄 ;

杨震 ;

张红学 .

中国专利 :CN113783754A ,2021-12-10

[9]

存储硬盘性能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

张亚伟 .

中国专利 :CN117971575A ,2024-05-03

[10]

电池性能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

杨崇伟 ;

王印 ;

宋丹丹 .

中国专利 :CN121142360A ,2025-12-16

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