用于反射样本的宏观检查的系统、方法和设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202080055920.7

申请日：

2020-06-30

公开(公告)号：

CN114207417A

公开(公告)日：

2022-03-18

发明(设计)人：

马修·C·普特曼约翰·B·普特曼约翰·莫菲特迈克尔·莫斯基杰弗里·安德烈森斯科特·波齐·洛约拉朱莉·奥兰多

申请人：

申请人地址：

美国俄亥俄州库亚霍加瀑布110号套房前街2251号

IPC主分类号：

G01N2184

IPC分类号：

G01N2188 G01N2147 G01N2155 G01N1514 G06T500 G06T700 H04N5225 H04N5232 H04N5247 H04N5262

代理机构：

北京高沃律师事务所 11569

代理人：

赵兴华

法律状态：

公开

国省代码：

引用

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共 50 条

[1]

用于反射样本的宏观检查的系统、方法和设备 [P].

马修·C·普特曼 ;

约翰·B·普特曼 ;

约翰·莫菲特 ;

迈克尔·莫斯基 ;

杰弗里·安德烈森 ;

斯科特·波齐·洛约拉 ;

朱莉·奥兰多 .

美国专利 :CN114207417B ,2024-10-15

[2]

用于反射样品的宏观检查的系统、方法和设备 [P].

乔纳森·李 ;

达马斯·利莫格 ;

马修·C·普特曼 ;

约翰·B·普特曼 ;

迈克尔·莫斯基 .

美国专利 :CN117501306A ,2024-02-02

[3]

用于检查和处理显微的样本的方法和检查系统 [P].

福尔克·施劳德拉夫 ;

布拉戈维斯塔·韦格纳 .

中国专利 :CN107624159B ,2018-01-23

[4]

用于LCD玻璃的宏观检查设备 [P].

全仁铎 .

中国专利 :CN101995674B ,2011-03-30

[5]

检查设备、检查方法和检查系统 [P].

张丽 ;

陈志强 ;

李元景 ;

黄清萍 ;

冯博 ;

张立国 ;

李桂培 ;

何志锋 ;

常铭 .

中国专利 :CN118707613A ,2024-09-27

[6]

用于检查容器的检查设备和检查方法 [P].

克里斯托夫·威尔 .

中国专利 :CN113692532A ,2021-11-23

[7]

检查系统、检查设备和检查设备的控制方法 [P].

林公生 .

中国专利 :CN113805820A ,2021-12-17

[8]

检查系统、检查设备和检查设备的控制方法 [P].

林公生 .

日本专利 :CN113805820B ,2025-05-13

[9]

用于检查的方法和设备 [P].

B·卡斯川普 ;

J·C·H·缪尔肯斯 ;

M·A·范登布林克 ;

约瑟夫·帕卓斯·亨瑞克瑞·本叔普 ;

E·P·斯马克曼 ;

T·朱兹海妮娜 ;

C·A·维索尔伦 .

中国专利 :CN108701576A ,2018-10-23

[10]

用于检查管道的检查设备和方法 [P].

杨培正 .

中国专利 :CN118533864A ,2024-08-23

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-18	公开	公开
2022-04-05	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/84 申请日:20200630