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X射线检查系统
被引:0
专利类型
:
外观设计
申请号
:
CN201230181146.2
申请日
:
2012-05-18
公开(公告)号
:
CN302055926S
公开(公告)日
:
2012-08-29
发明(设计)人
:
罗明生
王智泉
申请人
:
申请人地址
:
100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
IPC主分类号
:
2401
IPC分类号
:
代理机构
:
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
:
齐晓寰
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2012-08-29
授权
授权
2022-06-03
专利权的终止
专利权有效期届满 主分类号:24-01 申请日:20120518 授权公告日:20120829
共 50 条
[1]
X射线检查系统
[P].
罗明生
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0
罗明生
;
郑艳霞
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郑艳霞
.
中国专利
:CN302042131S
,2012-08-22
[2]
X射线检查系统
[P].
罗明生
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罗明生
;
王智泉
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王智泉
.
中国专利
:CN302188854S
,2012-11-21
[3]
X射线检查系统
[P].
罗明生
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罗明生
;
林伟智
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林伟智
;
雷程智
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雷程智
;
邓佳为
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邓佳为
.
中国专利
:CN305350776S
,2019-09-17
[4]
X射线检查系统
[P].
易裕民
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易裕民
;
胡瑞霞
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胡瑞霞
;
冉龙松
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冉龙松
;
王小兵
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王小兵
.
中国专利
:CN301271064S
,2010-06-23
[5]
X射线检查系统
[P].
罗明生
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机构:
同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
罗明生
;
武文旺
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机构:
同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
武文旺
;
孙洪波
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机构:
同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
孙洪波
;
李东茂
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机构:
同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
李东茂
.
中国专利
:CN308923582S
,2024-11-05
[6]
X射线检查系统
[P].
罗明生
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机构:
同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
罗明生
;
武文旺
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机构:
同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
武文旺
;
孙洪波
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
孙洪波
;
李东茂
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机构:
同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
李东茂
.
中国专利
:CN308918772S
,2024-11-01
[7]
X射线检查系统
[P].
罗明生
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罗明生
;
孙洪波
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孙洪波
;
李东茂
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李东茂
;
王勤忏
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王勤忏
;
李喜猛
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李喜猛
.
中国专利
:CN305765377S
,2020-05-08
[8]
X射线检查系统
[P].
张昔峰
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张昔峰
;
陈原
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陈原
;
刘绍辉
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刘绍辉
;
江奇桦
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江奇桦
.
中国专利
:CN304003970S
,2017-01-11
[9]
X射线检查系统
[P].
陶向前
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陶向前
;
易裕民
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易裕民
;
邓佳为
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邓佳为
;
郑燕霞
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郑燕霞
;
张建强
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张建强
.
中国专利
:CN301271063S
,2010-06-23
[10]
X射线检查系统
[P].
罗明生
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罗明生
;
杨中荣
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杨中荣
;
张建强
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张建强
.
中国专利
:CN302360144S
,2013-03-20
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