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检查装置、检查系统以及检查方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910149170.9
申请日
:
2019-02-28
公开(公告)号
:
CN110220922A
公开(公告)日
:
2019-09-10
发明(设计)人
:
小口智
久利龙平
金井政史
申请人
:
申请人地址
:
日本东京
IPC主分类号
:
G01N21956
IPC分类号
:
G01N21898
G01N2125
代理机构
:
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人
:
潘树志
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-03-09
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/956 申请日:20190228
2019-09-10
公开
公开
共 50 条
[1]
检查装置、检查系统以及检查方法
[P].
今堀翔也
论文数:
0
引用数:
0
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0
今堀翔也
.
中国专利
:CN114264928A
,2022-04-01
[2]
检查系统、检查装置以及检查方法
[P].
碓井隆
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碓井隆
;
高安俊贵
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高安俊贵
;
渡部一雄
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渡部一雄
;
大西敦郎
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大西敦郎
;
高桥博
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高桥博
;
砂押贵光
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砂押贵光
.
中国专利
:CN115107830A
,2022-09-27
[3]
检查装置、检查系统以及检查方法
[P].
冈本学
论文数:
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机构:
爱斯佩克株式会社
爱斯佩克株式会社
冈本学
;
今堀翔也
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机构:
爱斯佩克株式会社
爱斯佩克株式会社
今堀翔也
.
日本专利
:CN112798924B
,2024-08-06
[4]
检查装置、检查系统以及检查方法
[P].
圆城寺隆治
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圆城寺隆治
;
肋坂嘉一
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肋坂嘉一
;
内田谕
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内田谕
;
加藤英子
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加藤英子
;
高野雅代
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高野雅代
.
中国专利
:CN107615041B
,2018-01-19
[5]
检查装置、检查系统以及检查方法
[P].
冈本学
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冈本学
;
今堀翔也
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今堀翔也
.
中国专利
:CN112798924A
,2021-05-14
[6]
检查系统、检查装置以及检查方法
[P].
横井崇秀
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横井崇秀
;
白井正敬
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白井正敬
.
中国专利
:CN107614674B
,2018-01-19
[7]
检查装置、检查系统以及检查方法
[P].
森田伸义
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森田伸义
;
萱岛信
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萱岛信
;
伯田惠辅
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伯田惠辅
;
大和田彻
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大和田彻
.
中国专利
:CN106255621B
,2016-12-21
[8]
检查装置以及检查系统
[P].
冈田敬夫
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冈田敬夫
;
田中隆
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田中隆
;
竹下洸资
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竹下洸资
.
中国专利
:CN107209126B
,2017-09-26
[9]
检查装置以及检查系统
[P].
并木勇太
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0
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并木勇太
.
中国专利
:CN109557099A
,2019-04-02
[10]
检查装置以及检查系统
[P].
加屋野博幸
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加屋野博幸
;
平冈俊郎
论文数:
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平冈俊郎
.
中国专利
:CN104459806A
,2015-03-25
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