高可靠电子产品可靠性验证方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010343064.7

申请日：

2020-04-27

公开(公告)号：

CN111553073B

公开(公告)日：

2020-08-18

发明(设计)人：

武月琴侯晨光汪启华闫鑫刘宏琴田蔚韩西龙

申请人：

申请人地址：

100028 北京市朝阳区东直门外京顺路7号

IPC主分类号：

G06F3020

IPC分类号：

G06F11902

代理机构：

北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙) 11474

代理人：

孙建

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-06-14	授权	授权
2020-08-18	公开	公开
2020-09-11	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 30/20 申请日:20200427

共 50 条

[1]

长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法 [P].

孔雷星 ;

陈波 ;

乔卫新 ;

马季军 ;

冷学敏 .

中国专利 :CN104182603A ,2014-12-03

[2]

电子产品可靠性测试系统 [P].

林征平 ;

陈维潮 ;

黄训合 ;

刘群 .

中国专利 :CN210534251U ,2020-05-15

[3]

电子产品可靠性测试系统 [P].

林征平 ;

陈维潮 ;

黄训合 ;

刘群 .

中国专利 :CN110426585A ,2019-11-08

[4]

多失效模式下电子产品可靠性指标加速验证方法 [P].

曾晨晖 ;

孔祥雷 ;

白春磊 ;

张超逸 ;

马岳轩 ;

彭超 .

中国专利 :CN111079276A ,2020-04-28

[5]

基于确信可靠性的贮存电子产品可靠性分析方法 [P].

陈颖 ;

郭耀辉 ;

王艳芳 ;

王泽 ;

康锐 .

中国专利 :CN118246376A ,2024-06-25

[6]

一种电子产品可靠性水平预计方法 [P].

公杰 .

中国专利 :CN110069838A ,2019-07-30

[7]

高可靠产品可靠性验证试验的样本量缩减方法 [P].

肖坤 .

中国专利 :CN117786916A ,2024-03-29

[8]

一种电子产品可靠性检测装置 [P].

刘晓霞 ;

徐静 ;

杨敏 ;

翟明明 .

中国专利 :CN207752077U ,2018-08-21

[9]

一种电子产品可靠性检测装置 [P].

于志强 ;

何万清 ;

龚辰 ;

周勇 ;

张瀚云 .

中国专利 :CN217819686U ,2022-11-15

[10]

一种电子产品可靠性检测装置 [P].

吴静思 .

中国专利 :CN218239253U ,2023-01-06

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