短路测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220102193.8

申请日：

2012-03-19

公开(公告)号：

CN202548256U

公开(公告)日：

2012-11-21

发明(设计)人：

陈琪文

申请人：

申请人地址：

518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号

IPC主分类号：

G01R3102

IPC分类号：

G01R3140 G01R104

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-05-13	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101609114543 IPC(主分类):G01R 31/02 专利号:ZL2012201021938 申请日:20120319 授权公告日:20121121 终止日期:20140319
2012-11-21	授权	授权

共 50 条

[1]

MOSFET短路测试装置 [P].

杨富森 .

中国专利 :CN103376384A ,2013-10-30

[2]

电机短路测试装置 [P].

金福柱 ;

马妍 ;

田宇 ;

王韬 ;

杨景峰 ;

姜雷 ;

杨阳 ;

孙立超 ;

才远 ;

王慧影 ;

李思彤 ;

范龙 .

中国专利 :CN212569084U ,2021-02-19

[3]

电池短路测试装置 [P].

周明杰 ;

胡波 .

中国专利 :CN103675580A ,2014-03-26

[4]

短路测试装置 [P].

V·海因斯 ;

A·布里茨 ;

A·达斯 ;

Y·拉杰韦德 ;

H·森古普塔 ;

S·叶尔 ;

C·巴施 .

中国专利 :CN113777479A ,2021-12-10

[5]

短路测试装置 [P].

熊金良 .

中国专利 :CN102221656A ,2011-10-19

[6]

短路测试装置 [P].

V·海因斯 ;

A·布里茨 ;

A·达斯 ;

Y·拉杰韦德 ;

H·森古普塔 ;

S·叶尔 ;

C·巴施 .

:CN119199512A ,2024-12-27

[7]

短路测试装置 [P].

熊胜亮 ;

李耀高 .

中国专利 :CN201477181U ,2010-05-19

[8]

短路测试装置 [P].

邹洪兵 .

中国专利 :CN203881887U ,2014-10-15

[9]

短路测试装置 [P].

蒙丽莎 ;

张钟舰 ;

王利东 ;

李清兰 ;

赵文杰 .

中国专利 :CN222952463U ,2025-06-06

[10]

短路测试装置 [P].

白敬意 ;

李梓立 .

中国专利 :CN120405423A ,2025-08-01

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