芯片中心点的测量方法以及芯片中心点偏移量的测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010196502.1

申请日：

2020-03-19

公开(公告)号：

CN111380459B

公开(公告)日：

2020-07-07

发明(设计)人：

李晖许杨柳邓爱国

申请人：

申请人地址：

215300 江苏省苏州市昆山高新技术产业开发区台虹路3号

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

代理机构：

上海波拓知识产权代理有限公司 31264

代理人：

蔡光仟

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-27	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01B 11/00 变更事项:申请人变更前:昆山丘钛微电子科技有限公司变更后:昆山丘钛微电子科技股份有限公司变更事项:地址变更前:215300 江苏省苏州市昆山高新技术产业开发区台虹路3号变更后:215300 江苏省苏州市昆山高新技术产业开发区台虹路3号
2022-06-10	授权	授权
2020-07-31	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20200319
2020-07-07	公开	公开

共 50 条

[1]

圆钢印中心点的视觉精密测量方法 [P].

刘华 ;

陈远 .

中国专利 :CN114332486A ,2022-04-12

[2]

高炉炉壳安装中心点测量方法 [P].

沈洪斌 ;

荀建法 .

中国专利 :CN103292696A ,2013-09-11

[3]

一种管路端面中心点的测量方法及装置 [P].

刘检华 ;

金鹏 ;

刘少丽 ;

丁晓宇 ;

王骁 ;

孙鹏 ;

王爱民 .

中国专利 :CN104315978A ,2015-01-28

[4]

一种深井井筒中心点和边线点向下移设的测量方法 [P].

孙金皆 ;

韩天恩 ;

余宝为 ;

王团结 ;

祁全峰 ;

吴江 .

中国专利 :CN110530342A ,2019-12-03

[5]

一种超导质子旋转机架等中心点测量方法 [P].

郑金星 ;

宋云涛 ;

李由 ;

李明 ;

张午权 ;

沈俊松 ;

朱雷 ;

陈永华 ;

刘海洋 ;

曾宪虎 .

中国专利 :CN109489597B ,2019-03-19

[6]

具有偏移量测量标记的多层结构及其偏移量的测量方法 [P].

杨靖哲 ;

黄昱嘉 ;

吴韦良 .

中国专利 :CN104979330B ,2015-10-14

[7]

一种卡车中心轴线偏移量测量方法 [P].

陈钱 ;

梁森 ;

伍可文 ;

乔宪涛 .

中国专利 :CN113503838B ,2021-10-15

[8]

一种立辊中心线偏移量的测量方法 [P].

李东宇 ;

张华 ;

艾铖珅 ;

邢津铭 ;

林兆宇 ;

王进臣 .

中国专利 :CN104864792B ,2015-08-26

[9]

一种基于手持示教器的着漆中心点信息的测量方法 [P].

于兴虎 ;

王振 ;

林伟阳 ;

李湛 .

中国专利 :CN107063087A ,2017-08-18

[10]

新型透射式镜片中心偏测量装置及测量方法 [P].

马会斌 .

中国专利 :CN105091798A ,2015-11-25

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