程序测试方法、装置及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011370178.7

申请日：

2020-11-30

公开(公告)号：

CN112395203A

公开(公告)日：

2021-02-23

发明(设计)人：

陈丽萍

申请人：

申请人地址：

100176 北京市北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

G06N2000

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

张娜;臧建明

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-14	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G06F 11/36 变更事项:申请人变更前:京东数字科技控股股份有限公司变更后:京东科技控股股份有限公司变更事项:地址变更前:100176 北京市北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室变更后:100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室
2021-03-12	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20201130
2021-02-23	公开	公开

共 50 条

[1]

程序测试方法、装置及存储介质 [P].

陈丽萍 .

中国专利 :CN112395203B ,2024-06-14

[2]

程序测试方法、程序测试装置及存储介质 [P].

雷达伟 .

中国专利 :CN110888816A ,2020-03-17

[3]

程序测试方法及装置、存储介质 [P].

董永清 ;

孙良木 ;

潘温 .

中国专利 :CN110851370B ,2024-04-26

[4]

程序测试方法、装置及存储介质 [P].

陈镇浩 ;

易阳锋 ;

李宪杰 ;

贺柳 ;

刘家辉 ;

阮振锋 ;

潘才捷 ;

刘梦茹 ;

李荣福 ;

黄鸿宇 .

中国专利 :CN117971669A ,2024-05-03

[5]

程序测试方法及装置、存储介质 [P].

董永清 ;

孙良木 ;

潘温 .

中国专利 :CN110851370A ,2020-02-28

[6]

程序测试方法、装置、终端及存储介质 [P].

钟子豪 .

中国专利 :CN112468641A ,2021-03-09

[7]

程序测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

熊成 .

中国专利 :CN112860537A ,2021-05-28

[8]

程序测试方法、装置及可读存储介质 [P].

刘磊 ;

张尧 .

中国专利 :CN115237807B ,2024-02-06

[9]

程序测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

卜小春 .

中国专利 :CN118093362A ,2024-05-28

[10]

程序测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

王平 ;

赵灵犀 ;

陈勃 .

中国专利 :CN121116804A ,2025-12-12

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