一种集成电路中可靠性分析的测试结构

被引：0

申请号：

CN202220195734.X

申请日：

2022-01-25

公开(公告)号：

CN217060416U

公开(公告)日：

2022-07-26

发明(设计)人：

赵秀红杨天保

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区石岩街道石新社区塘头大道196号B座1419

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-26	授权	授权

共 50 条

[1]

一种集成电路中可靠性分析的测试结构 [P].

王忠 .

中国专利 :CN212540620U ,2021-02-12

[2]

一种集成电路中可靠性分析的测试结构 [P].

郭宏毅 ;

罗九斌 .

中国专利 :CN220525874U ,2024-02-23

[3]

一种集成电路中可靠性分析的测试结构 [P].

艾文思 ;

高宏玲 ;

翟腾 ;

申武鑫 ;

张国杰 ;

郭青帅 ;

马子扬 .

中国专利 :CN223308318U ,2025-09-05

[4]

一种集成电路中可靠性分析的测试结构 [P].

张凤林 .

中国专利 :CN218037198U ,2022-12-13

[5]

集成电路稳定可靠性分析测试结构 [P].

刘洋 ;

黄厚营 ;

李慕兰 .

中国专利 :CN217181128U ,2022-08-12

[6]

一种集成电路中可靠性分析的测试装置 [P].

赖榕弟 ;

岑平森 ;

叶鸿基 ;

黄汉端 ;

陈琪容 ;

周贤亮 ;

杨敬 ;

张榕彬 .

中国专利 :CN218067349U ,2022-12-16

[7]

一种集成电路中可靠性分析的测试结构 [P].

潘璠 .

中国专利 :CN114779049A ,2022-07-22

[8]

一种集成电路可靠性分析的测试仪 [P].

郭宏毅 ;

罗九斌 .

中国专利 :CN220525948U ,2024-02-23

[9]

集成电路中可靠性分析的测试结构及其测试方法 [P].

王笃林 ;

胡永锋 ;

吕勇 ;

赵祥富 .

中国专利 :CN104282661B ,2015-01-14

[10]

集成电路中可靠性分析的测试结构及其测试方法 [P].

冯军宏 ;

甘正浩 .

中国专利 :CN103824839A ,2014-05-28

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