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一种面形检测装置及面形检测方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201910936900.X
申请日：
2019-09-29
公开(公告)号：
CN110514142B
公开(公告)日：
2019-11-29
发明(设计)人：
张学军 胡海翔 陶小平
申请人：
申请人地址：
130033 吉林省长春市长春经济技术开发区东南湖大路3888号
IPC主分类号：
G01B1124
IPC分类号：
代理机构：
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人：
张欣然
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2019-11-29 公开 公开
2020-09-08 授权 授权
2019-12-24 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/24 申请日:20190929
共 50 条
[1]
光学面形的检测装置及光学面形的检测方法 [P]. 
贾辛 ;
邢廷文 .
中国专利 :CN101949690A ,2011-01-19
[2]
面形检测系统及检测方法 [P]. 
沃林 ;
沃家 .
中国专利 :CN114577111A ,2022-06-03
[3]
一种面形检测装置与检测方法 [P]. 
杨福桂 ;
李明 ;
盛伟繁 ;
刘鹏 .
中国专利 :CN106052585A ,2016-10-26
[4]
一种光学面形的检测装置及检测方法 [P]. 
贾辛 ;
徐富超 ;
谢伟民 ;
邢廷文 .
中国专利 :CN102735184B ,2012-10-17
[5]
非球面元件面形检测装置及检测方法 [P]. 
张文龙 ;
苗亮 ;
刘钰 .
中国专利 :CN106441154A ,2017-02-22
[6]
透明元件面形检测方法 [P]. 
张庆辉 ;
郑万兴 ;
吕磊 ;
万晨霞 ;
王金辉 .
中国专利 :CN119779195A ,2025-04-08
[7]
一种面形检测系统及方法 [P]. 
沃林 ;
沃家 .
中国专利 :CN114964054B ,2023-01-13
[8]
器件面形检测方法、装置及系统 [P]. 
李文钰 ;
范玉娇 ;
韩昱 .
中国专利 :CN116295096B ,2025-08-26
[9]
一种点衍射干涉面形检测装置及检测方法 [P]. 
冯鹏 ;
李中梁 ;
王向朝 .
中国专利 :CN118758170A ,2024-10-11
[10]
一种高空间分辨长程面形检测装置及检测方法 [P]. 
杨福桂 ;
李明 .
中国专利 :CN104567719A ,2015-04-29
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