校验方法、装置、电子设备及介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910053670.2

申请日：

2019-01-21

公开(公告)号：

CN109889325A

公开(公告)日：

2019-06-14

发明(设计)人：

李杨

申请人：

申请人地址：

523860 广东省东莞市长安镇乌沙海滨路18号

IPC主分类号：

H04L906

IPC分类号：

H04L932

代理机构：

北京恒博知识产权代理有限公司 11528

代理人：

范胜祥

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-07-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04L 9/06 申请日:20190121
2019-06-14	公开	公开

共 50 条

[1]

校验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

向瑞曾 .

中国专利 :CN119149970A ,2024-12-17

[2]

数据校验方法、装置、介质及电子设备 [P].

夏东朝 ;

李方平 ;

匡红阳 ;

杨锋云 ;

李毅 ;

陈博伶 .

中国专利 :CN113344598B ,2025-05-23

[3]

证件校验方法、装置、电子设备及介质 [P].

雷晨雨 ;

周建伟 ;

张国辉 ;

宋晨 .

中国专利 :CN112132812A ,2020-12-25

[4]

校验方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

张洁 ;

刘新 .

中国专利 :CN115373676A ,2022-11-22

[5]

数据校验方法、装置、介质及电子设备 [P].

夏东朝 ;

李方平 ;

匡红阳 ;

杨锋云 ;

李毅 ;

陈博伶 .

中国专利 :CN113344598A ,2021-09-03

[6]

校验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙晓晶 ;

王举 .

中国专利 :CN120723242A ,2025-09-30

[7]

校验方法、装置、电子设备和介质 [P].

钟望 .

中国专利 :CN114139137A ,2022-03-04

[8]

校验方法、校验装置、电子设备和存储介质 [P].

吴宪福 .

中国专利 :CN115016983A ,2022-09-06

[9]

参数校验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张国辉 ;

葛国周 .

中国专利 :CN114357388A ,2022-04-15

[10]

校验方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

赵阳阳 ;

陈晓 .

中国专利 :CN113409424A ,2021-09-17

← 1 2 3 4 5 →