一种芯片检测装置及芯片检测的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010790206.4

申请日：

2020-08-07

公开(公告)号：

CN112113974A

公开(公告)日：

2020-12-22

发明(设计)人：

赵楚中吴淑娟

申请人：

申请人地址：

518052 广东省深圳市南山区西丽镇茶光路1089号深圳集成电路设计应用产业园404

IPC主分类号：

G01N2194

IPC分类号：

G01N2101

代理机构：

深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280

代理人：

袁江龙

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-12-22	公开	公开
2021-01-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/94 申请日:20200807

共 50 条

[1]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN118245311A ,2024-06-25

[2]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN118245311B ,2024-08-20

[3]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN117632606A ,2024-03-01

[4]

一种芯片检测方法及芯片检测系统 [P].

郑澎 ;

梁诚 ;

郑曙涛 ;

莫树任 .

中国专利 :CN117370755A ,2024-01-09

[5]

芯片检测方法及芯片检测装置 [P].

周舰波 .

中国专利 :CN113075533B ,2021-07-06

[6]

芯片检测方法及芯片检测装置 [P].

周舰波 .

中国专利 :CN113075532A ,2021-07-06

[7]

芯片检测装置及芯片检测方法 [P].

高振凯 ;

魏福呈 .

中国专利 :CN118584294A ,2024-09-03

[8]

检测芯片、检测装置及制备和操作检测芯片的方法 [P].

胡立教 ;

张玙璠 ;

崔皓辰 ;

袁春根 ;

李婧 ;

申晓贺 ;

甘伟琼 .

中国专利 :CN115734818B ,2025-01-14

[9]

检测芯片及检测装置 [P].

王琛瑜 ;

张玙璠 ;

赵静 ;

孙玮婧 .

中国专利 :CN214599106U ,2021-11-05

[10]

一种检测芯片、检测装置及浓度检测方法 [P].

孟凡理 ;

陈江博 .

中国专利 :CN118730986A ,2024-10-01

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