一种太阳能硅片数量检测系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202022928790.3

申请日：

2020-12-09

公开(公告)号：

CN213455414U

公开(公告)日：

2021-06-15

发明(设计)人：

张传祥刘超

申请人：

申请人地址：

231600 安徽省合肥市肥东县合肥循环经济示范园机械加工区纵一路东侧

IPC主分类号：

G01B2108

IPC分类号：

G01B2116

代理机构：

北京久维律师事务所 11582

代理人：

邢江峰

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-18	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 21/08 申请日:20201209 授权公告日:20210615 终止日期:20211209
2021-06-15	授权	授权

共 50 条

[1]

太阳能硅片数量检测系统 [P].

洪祖杭 .

中国专利 :CN201984519U ,2011-09-21

[2]

太阳能硅片数量检测系统 [P].

张兆民 .

中国专利 :CN107330507A ,2017-11-07

[3]

一种太阳能硅片检测系统 [P].

钟小龙 ;

贾淳 .

中国专利 :CN203299136U ,2013-11-20

[4]

一种太阳能硅片的检测系统 [P].

凌步军 ;

朱鹏程 ;

袁明峰 ;

赵有伟 ;

冯高俊 ;

滕宇 ;

吕金鹏 ;

冷志斌 .

中国专利 :CN214041188U ,2021-08-24

[5]

太阳能硅片检测系统 [P].

张兆民 .

中国专利 :CN107248497A ,2017-10-13

[6]

太阳能硅片及电池片缺陷检测系统 [P].

王利顺 ;

陈利平 ;

裴世铀 ;

李波 .

中国专利 :CN203055872U ,2013-07-10

[7]

一种太阳能硅片检测系统及方法 [P].

钟小龙 ;

贾淳 .

中国专利 :CN104237243A ,2014-12-24

[8]

太阳能硅片线痕高精度检测系统 [P].

陈利平 ;

惠施 ;

裴世铀 ;

李波 .

中国专利 :CN202494648U ,2012-10-17

[9]

太阳能硅片清洗系统 [P].

左国军 .

中国专利 :CN202803656U ,2013-03-20

[10]

一种太阳能硅片清洗系统 [P].

李建弘 ;

危晨 ;

刘涛 ;

赵越 ;

唐昊 .

中国专利 :CN213716841U ,2021-07-16

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