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一种基于网络协同的电器产品外观缺陷检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202111079409.3
申请日
:
2021-09-15
公开(公告)号
:
CN113838015A
公开(公告)日
:
2021-12-24
发明(设计)人
:
聂佳
杜鹏飞
刘传忠
高文祥
薛吉
杨剑
申请人
:
申请人地址
:
200063 上海市普陀区武宁路505号
IPC主分类号
:
G06T700
IPC分类号
:
G06T713
G06K946
G06N304
G06N308
代理机构
:
上海璀汇知识产权代理事务所(普通合伙) 31367
代理人
:
王文颖
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-01-11
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210915
2021-12-24
公开
公开
共 50 条
[1]
一种基于随机缺陷模型的产品外观缺陷检测方法
[P].
胡志雄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
胡志雄
.
中国专利
:CN112907543A
,2021-06-04
[2]
一种基于随机缺陷模型的产品外观缺陷检测方法
[P].
胡志雄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
胡志雄
胡志雄
胡志雄
.
中国专利
:CN112907543B
,2024-03-26
[3]
一种基于视觉检测的耳机外观外壳外观缺陷检测方法
[P].
王立尚
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
惠州市天麒电子科技有限公司
惠州市天麒电子科技有限公司
王立尚
;
陈雪玲
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
惠州市天麒电子科技有限公司
惠州市天麒电子科技有限公司
陈雪玲
.
中国专利
:CN120655596A
,2025-09-16
[4]
一种基于机器视觉技术的产品外观缺陷检测方法
[P].
宋长乐
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
宋长乐
;
张义伟
论文数:
0
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0
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0
机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
张义伟
;
徐洋
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
徐洋
;
朱文祥
论文数:
0
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0
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0
机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
朱文祥
.
中国专利
:CN120471844A
,2025-08-12
[5]
一种显示面板外观缺陷检测网络及其缺陷检测方法
[P].
马卫飞
论文数:
0
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0
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0
马卫飞
;
张胜森
论文数:
0
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0
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0
张胜森
;
郑增强
论文数:
0
引用数:
0
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0
郑增强
.
中国专利
:CN110009622B
,2019-07-12
[6]
一种基于深度学习的软管尾部外观缺陷检测方法
[P].
孙克强
论文数:
0
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0
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0
机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
孙克强
;
刘敏
论文数:
0
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0
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0
机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
刘敏
;
张义伟
论文数:
0
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0
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0
机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
张义伟
;
徐洋
论文数:
0
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0
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0
机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
徐洋
;
沈宝诚
论文数:
0
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0
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0
机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
沈宝诚
;
刘振洗
论文数:
0
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0
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0
机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
刘振洗
;
金怀国
论文数:
0
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0
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0
机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
金怀国
;
薛晓东
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
薛晓东
.
中国专利
:CN119205709A
,2024-12-27
[7]
一种外观缺陷检测方法及系统
[P].
尹书娟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
凌云光技术股份有限公司
凌云光技术股份有限公司
尹书娟
.
中国专利
:CN111986195B
,2024-02-20
[8]
一种外观缺陷检测方法及系统
[P].
尹书娟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
尹书娟
.
中国专利
:CN111986195A
,2020-11-24
[9]
一种基于神经网络的螺母外观缺陷检测方法及装置
[P].
尹强
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳职业技术大学
深圳职业技术大学
尹强
;
温填
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳职业技术大学
深圳职业技术大学
温填
;
郑铭岳
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
深圳职业技术大学
深圳职业技术大学
郑铭岳
;
叶子云
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
深圳职业技术大学
深圳职业技术大学
叶子云
.
中国专利
:CN118521568A
,2024-08-20
[10]
一种基于改进YOLOv5的小样本芯片外观缺陷检测方法及检测系统
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈俊风
;
成佳康
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
河海大学
河海大学
成佳康
;
论文数:
引用数:
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机构:
谢迎娟
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
王海滨
.
中国专利
:CN116228740B
,2025-11-21
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