一种真空下压框电子产品检测冶具

被引：0

申请号：

CN202222225772.8

申请日：

2022-08-22

公开(公告)号：

CN217930695U

公开(公告)日：

2022-11-29

发明(设计)人：

贺成

申请人：

申请人地址：

430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道58号1栋H0809(自贸区武汉片区)

IPC主分类号：

G01M302

IPC分类号：

B25B1100

代理机构：

湖北创融蓝图知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42276

代理人：

何龙

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-29	授权	授权

共 50 条

[1]

一种真空下压框电子产品检测冶具 [P].

陈磊磊 .

中国专利 :CN212706399U ,2021-03-16

[2]

一种真空下压框电子产品检测冶具 [P].

王晴 .

中国专利 :CN214067213U ,2021-08-27

[3]

一种真空下压框电子产品检测冶具 [P].

刘美如 .

中国专利 :CN214225216U ,2021-09-17

[4]

一种真空下压框电子产品检测冶具 [P].

邹继 .

中国专利 :CN210849921U ,2020-06-26

[5]

一种真空下压框电子产品检测冶具 [P].

梁骁 .

中国专利 :CN222379753U ,2025-01-21

[6]

一种工厂真空下压框电子产品检测冶具 [P].

林镇 ;

蔡永理 ;

刘启立 .

中国专利 :CN112798824A ,2021-05-14

[7]

一种电子产品检测冶具 [P].

薛晖 ;

钟美弟 .

中国专利 :CN215894701U ,2022-02-22

[8]

一种电子产品检测冶具 [P].

李勇 ;

凌伟东 .

中国专利 :CN114089085A ,2022-02-25

[9]

一种电子产品检测冶具 [P].

梅礼光 .

中国专利 :CN213457022U ,2021-06-15

[10]

一种电子产品检测用翻转冶具 [P].

陈庭华 .

中国专利 :CN212311964U ,2021-01-08

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