一种单位增益采样电路和提高采样精度的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710005182.5

申请日：

2017-01-04

公开(公告)号：

CN107070411A

公开(公告)日：

2017-08-18

发明(设计)人：

许聪

申请人：

申请人地址：

518057 广东省深圳市南山区高新科技产业园南区科技南八道豪威科技大厦16层

IPC主分类号：

H03F126

IPC分类号：

代理机构：

深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281

代理人：

江婷

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-08-18	公开	公开
2019-11-12	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H03F 1/26 申请日:20170104

共 50 条

[1]

一种采样电路和提高采样电路采样分辨率的方法 [P].

李鹏 ;

钟书鹏 ;

赵翔宇 ;

杨昆 ;

张威龙 ;

邓廷 .

中国专利 :CN106059584A ,2016-10-26

[2]

一种提高采样精度的电流采样电路 [P].

王艾 ;

汪晶晶 ;

冯纪归 ;

徐涛涛 ;

吴迎丰 .

中国专利 :CN204536400U ,2015-08-05

[3]

一种采样电路及采样方法 [P].

周立人 ;

熊俊 .

中国专利 :CN104052459A ,2014-09-17

[4]

一种MCU采样电路和采样方法 [P].

杨凌云 .

中国专利 :CN104716945A ,2015-06-17

[5]

一种信号采样电路、电机控制电路和信号采样方法 [P].

李进良 .

中国专利 :CN118694213A ,2024-09-24

[6]

采样电路和采样方法 [P].

彼得·博格纳 ;

赫维格·瓦皮斯 .

中国专利 :CN111308171A ,2020-06-19

[7]

一种LDO的输出电流采样电路及采样精度调整方法 [P].

王建平 ;

戴义红 ;

杨昀 ;

梁恩主 .

中国专利 :CN111474975A ,2020-07-31

[8]

一种提高ADC采样精度的电路 [P].

房希睿 ;

吴黎明 ;

夏生柱 .

中国专利 :CN106603078A ,2017-04-26

[9]

一种提高电压采样精度的电路 [P].

李亚三 ;

张兴豪 ;

徐富能 .

中国专利 :CN221595566U ,2024-08-23

[10]

一种提高采样保持器增益范围的装置、方法 [P].

陈晓东 ;

廉哲 .

中国专利 :CN114553222A ,2022-05-27

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