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测量设备、测量方法及程序
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201710616268.1
申请日
:
2017-07-25
公开(公告)号
:
CN107656485B
公开(公告)日
:
2018-02-02
发明(设计)人
:
早野绫一郎
野原康弘
井伊谷育典
关口翔
申请人
:
申请人地址
:
日本千叶县
IPC主分类号
:
G05B19048
IPC分类号
:
G01D2102
代理机构
:
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
:
延美花;臧建明
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-02-02
公开
公开
2018-03-02
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G05B 19/048 申请日:20170725
2020-09-01
授权
授权
共 50 条
[1]
测量设备、测量方法及程序
[P].
早野绫一郎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
早野绫一郎
;
野原康弘
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
野原康弘
;
井伊谷育典
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
井伊谷育典
;
关口翔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
关口翔
.
中国专利
:CN107650350A
,2018-02-02
[2]
测量设备、测量方法和程序
[P].
平野広之
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
平野広之
;
芥川一树
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
芥川一树
;
黑岩达郎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黑岩达郎
;
佃恭范
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
佃恭范
;
崎村升
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
崎村升
.
中国专利
:CN114096881A
,2022-02-25
[3]
测量设备、测量方法和程序
[P].
藤崎丰克
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
佳能株式会社
佳能株式会社
藤崎丰克
;
小林加奈
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
佳能株式会社
佳能株式会社
小林加奈
.
日本专利
:CN120548133A
,2025-08-26
[4]
测量设备、测量方法和程序
[P].
平野広之
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
平野広之
;
芥川一树
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
芥川一树
;
黑岩达郎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
黑岩达郎
;
佃恭范
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
佃恭范
;
崎村升
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
崎村升
.
日本专利
:CN114096881B
,2025-10-17
[5]
测量设备、测量方法和程序
[P].
矶部裕史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
矶部裕史
;
椛泽秀年
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
椛泽秀年
;
氏家一朗
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
氏家一朗
;
増野智经
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
増野智经
.
中国专利
:CN111328371A
,2020-06-23
[6]
测量电路、测量方法及测量设备
[P].
李晓
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李晓
;
尤杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
尤杰
.
中国专利
:CN111998921A
,2020-11-27
[7]
测量电路、测量方法及测量设备
[P].
李晓
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯海科技(深圳)股份有限公司
芯海科技(深圳)股份有限公司
李晓
;
尤杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯海科技(深圳)股份有限公司
芯海科技(深圳)股份有限公司
尤杰
.
中国专利
:CN111998921B
,2024-09-17
[8]
测量系统、测量设备及测量方法
[P].
朱百贤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
朱百贤
;
小堺修
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
小堺修
;
寺岛彻
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
寺岛彻
.
日本专利
:CN121240823A
,2025-12-30
[9]
测量设备、测量方法、程序以及记录媒体
[P].
佐藤英雄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
佐藤英雄
.
中国专利
:CN103917161A
,2014-07-09
[10]
测量设备及测量方法
[P].
张勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张勇
;
顾大钊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
顾大钊
;
李全生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李全生
;
曹志国
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曹志国
.
中国专利
:CN108195496A
,2018-06-22
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