光学位置测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811248872.4

申请日：

2018-10-25

公开(公告)号：

CN109708569B

公开(公告)日：

2019-05-03

发明(设计)人：

W.霍尔扎普费尔 K.森迪希

申请人：

申请人地址：

德国特劳恩罗伊特

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

G01D538

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

胡莉莉;刘春元

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-16	授权	授权
2020-08-11	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20181025
2019-05-03	公开	公开

共 50 条

[1]

光学位置测量装置 [P].

K.森迪希 .

中国专利 :CN107490339A ,2017-12-19

[2]

光学位置测量装置 [P].

W.霍尔扎普费尔 .

中国专利 :CN105910533A ,2016-08-31

[3]

光学位置测量装置 [P].

托马斯·卡埃尔贝雷尔 .

德国专利 :CN111947567B ,2025-01-28

[4]

光学位置测量装置 [P].

约尔格·德雷谢尔 ;

沃尔夫冈·霍尔扎普费尔 ;

拉尔夫·约尔格尔 ;

托马斯·卡埃尔贝雷尔 ;

马库斯·迈斯纳 ;

伯恩哈德·默施 ;

埃尔温·施潘纳 .

中国专利 :CN105300278A ,2016-02-03

[5]

光学位置测量装置 [P].

沃尔夫冈·霍尔扎普费尔 ;

约尔格·德雷谢尔 ;

罗伯特·克尔纳 ;

马库斯·迈斯纳 .

中国专利 :CN104515468A ,2015-04-15

[6]

光学位置测量装置 [P].

托马斯·卡埃尔贝雷尔 .

中国专利 :CN111947567A ,2020-11-17

[7]

光学位置测量装置 [P].

J·瓦格纳 ;

S·格里斯 .

中国专利 :CN101441062A ,2009-05-27

[8]

光学位置测量装置 [P].

米夏埃尔·赫尔曼 .

中国专利 :CN110174048B ,2019-08-27

[9]

光学位置测量装置 [P].

W·霍尔扎普费尔 .

中国专利 :CN101688795A ,2010-03-31

[10]

光学位置测量装置 [P].

沃尔夫冈·霍尔扎普费尔 ;

克里斯托夫·林克 ;

约翰内斯·特劳特纳 .

中国专利 :CN106482762B ,2017-03-08

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