自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111437325.2
申请日
2021-11-29
公开(公告)号
CN114116490A
公开(公告)日
2022-03-01
发明(设计)人
李艳秋
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市罗湖区深南东路5047号
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人
熊永强
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
自动化测试方法、计算机设备及存储介质 [P]. 
王国彬 ;
牟锟伦 ;
胡彪 .
中国专利 :CN112612706A ,2021-04-06
[2]
自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
张巍巍 ;
李哲 ;
黄涛 .
中国专利 :CN114863240A ,2022-08-05
[3]
自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
王玉珍 ;
陆源 ;
魏尧东 .
中国专利 :CN109144869A ,2019-01-04
[4]
自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
高越 .
中国专利 :CN112181835B ,2024-04-26
[5]
自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
徐国诚 .
中国专利 :CN109783365A ,2019-05-21
[6]
自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
吕三 .
中国专利 :CN108572919A ,2018-09-25
[7]
自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
史亚文 .
中国专利 :CN118838809A ,2024-10-25
[8]
自动化测试方法及装置、存储介质、计算机设备 [P]. 
匡仁锦 ;
黄晓东 .
中国专利 :CN115080419A ,2022-09-20
[9]
自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
陈豫 ;
黄睿 .
中国专利 :CN115437933A ,2022-12-06
[10]
自动化测试方法及装置、存储介质、计算机设备 [P]. 
杨超群 .
中国专利 :CN119473892A ,2025-02-18