一种用于芯片检测的上下料装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201822244207.X
申请日
2018-12-28
公开(公告)号
CN209367303U
公开(公告)日
2019-09-10
发明(设计)人
李久林 雷茜 邓红华 王理林 阳小冬
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市龙岗区平湖街道新南社区平安大道33号H栋一、二层
IPC主分类号
B65G4790
IPC分类号
B65G47248 B65G3702
代理机构
深圳市鼎泰正和知识产权代理事务所(普通合伙) 44555
代理人
代春兰
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种用于芯片检测的上下料装置 [P]. 
李久林 ;
雷茜 ;
邓红华 ;
王理林 ;
阳小冬 .
中国专利 :CN109484851A ,2019-03-19
[2]
一种芯片检测的上下料装置 [P]. 
王珲荣 ;
晁阳升 ;
梁永鑫 .
中国专利 :CN215885467U ,2022-02-22
[3]
一种用于芯片检测的上下料装置 [P]. 
常浩 .
中国专利 :CN212848343U ,2021-03-30
[4]
一种用于电池检测的载具上下料装置 [P]. 
缪磊 ;
肖夕全 ;
袁文卿 .
中国专利 :CN214473470U ,2021-10-22
[5]
一种芯片检测机构的上下料装置 [P]. 
王鹤立 ;
刘汉奎 ;
李强 .
中国专利 :CN215796825U ,2022-02-11
[6]
一种上下料装置和检测设备 [P]. 
何凤雷 ;
郭玉栋 ;
赵凌云 .
中国专利 :CN211812297U ,2020-10-30
[7]
一种用于锻压的上下料装置 [P]. 
魏一波 ;
祝华均 .
中国专利 :CN209452720U ,2019-10-01
[8]
芯片上下料装置及其上下料方法 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN119786408A ,2025-04-08
[9]
一种上下料装置 [P]. 
刘国兴 ;
吴丰礼 ;
张安平 .
中国专利 :CN208948358U ,2019-06-07
[10]
一种上下料装置 [P]. 
王志峰 ;
张显 ;
骆灿波 ;
刘利锋 .
中国专利 :CN223721952U ,2025-12-26