芯片自动测试机

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110150473.X
申请日
2021-02-03
公开(公告)号
CN112798936A
公开(公告)日
2021-05-14
发明(设计)人
陈飞宇 梁发年
申请人
申请人地址
518100 广东省深圳市龙华区福城街道福民社区悦兴路63号鹏发第一工业园1号101、201、301
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
史翠
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片自动测试机 [P]. 
陈飞宇 ;
梁发年 .
中国专利 :CN214669444U ,2021-11-09
[2]
芯片自动测试机 [P]. 
陈飞宇 ;
梁发年 .
中国专利 :CN112798936B ,2025-01-14
[3]
自动测试机 [P]. 
程伟 ;
董金林 ;
刘于海 ;
张勇 .
中国专利 :CN201331559Y ,2009-10-21
[4]
内存芯片自动测试机 [P]. 
林勇 .
中国专利 :CN221754021U ,2024-09-24
[5]
自动测试机 [P]. 
王欢 ;
李斌 ;
范奕城 ;
邓明星 ;
王世峰 ;
刘金成 .
中国专利 :CN110006472A ,2019-07-12
[6]
自动测试机 [P]. 
秦道刚 .
中国专利 :CN202093108U ,2011-12-28
[7]
自动测试机 [P]. 
禤永安 ;
黄河 .
中国专利 :CN105731088B ,2016-07-06
[8]
一种自动测试系统及自动测试机 [P]. 
刘德华 .
中国专利 :CN204291398U ,2015-04-22
[9]
自动测试机 [P]. 
梁晖 ;
陈小兵 .
中国专利 :CN307253576S ,2022-04-12
[10]
锂电池自动测试机 [P]. 
张俊峰 ;
叶长春 ;
王士对 .
中国专利 :CN111871854A ,2020-11-03