存储器测试方法、装置、计算机设备以及存储介质

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专利类型
发明
申请号
CN201910366150.7
申请日
2019-05-05
公开(公告)号
CN110120242A
公开(公告)日
2019-08-13
发明(设计)人
魏园洲 邓志欢
申请人
申请人地址
519085 广东省珠海市吉大石花西路107号9栋综合楼(1-4层)
IPC主分类号
G11C2912
IPC分类号
G11C2914 G11C2944
代理机构
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
黄晶晶;黄晓庆
法律状态
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
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共 50 条
[1]
存储器测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
罗亦城 .
中国专利 :CN120148601A ,2025-06-13
[2]
存储器测试方法、装置、系统、计算机设备和存储介质 [P]. 
王传奇 ;
周灵 ;
黄琦 ;
苗淼 ;
薛睿卓 .
中国专利 :CN120220785A ,2025-06-27
[3]
存储器的测试方法、存储介质和计算机设备 [P]. 
龙光腾 ;
何浩 ;
陆丹 ;
胡波 .
中国专利 :CN113448782B ,2021-09-28
[4]
RAM存储器的测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
李奔 ;
刘世伟 ;
姚香君 ;
夏丽煖 ;
孔德智博 ;
罗迪 ;
许强 .
中国专利 :CN119252317A ,2025-01-03
[5]
测试方法、装置、计算机设备以及存储介质 [P]. 
张腾蛟 .
中国专利 :CN118152022A ,2024-06-07
[6]
测试方法、装置、计算机设备以及存储介质 [P]. 
姬小玉 .
中国专利 :CN109800112A ,2019-05-24
[7]
数据存储方法、装置、计算机设备以及存储介质 [P]. 
刘君 .
中国专利 :CN111857606A ,2020-10-30
[8]
存储器数据读写方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
张瑞敏 .
中国专利 :CN119065597A ,2024-12-03
[9]
访问存储器的方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
刘恒亚 ;
齐麟 .
德国专利 :CN120826678A ,2025-10-21
[10]
存储器定期进行BIST测试的方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
王宏伟 ;
张鹏 ;
李湘锦 ;
李华东 .
中国专利 :CN111429962A ,2020-07-17